場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡說(shuō)明介紹

簡(jiǎn)介 TECNAI G2 F20透射電子顯微鏡是一個(gè)多功能、多用戶環(huán)境的200KV場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡。該儀器配備了STEM、EDX、HADF、CCD等附件，能采集TEM明場(chǎng)、暗場(chǎng)像和髙分辨像，能進(jìn)行選區(qū)電子衍射，能進(jìn)行EDX能譜分析和髙分辨STEM原子序數(shù)像的分析，STEM結(jié)合EⅨ點(diǎn)、線掃描的可以進(jìn)行微區(qū)能譜分析。 工作原理

    TECNAI G2 F20透射電子顯微鏡可進(jìn)行：

  （1）形貌分析，它獲得非晶材料的質(zhì)厚襯度像，多晶材料的衍射襯度像和單晶薄膜的相位襯度像（原子像），通過(guò)形貌分析可獲得樣品的形貌、粒徑、分散性等相關(guān)信息，冋時(shí)還可通過(guò)明場(chǎng)像、暗場(chǎng)像對(duì)樣品進(jìn)行進(jìn)一步的表征；

  （2）結(jié)構(gòu)分析，觀察硏究材料結(jié)構(gòu)并對(duì)樣品進(jìn)行納米尺度的微分析，如：髙分辨晶格條紋像，選取電子衍射等。

  （3）成分分析：小到幾個(gè)納米尺度的微區(qū)或晶粒的成分分析，可對(duì)樣品進(jìn)行能譜點(diǎn)測(cè)、能譜線掃，獲得樣品中的元素在一個(gè)點(diǎn)、一條線的分布情況。TECNAI G2 F20透射電子顯微鏡廣泛應(yīng)用于髙分子材料、陶瓷、納米材料、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、化學(xué)、物理學(xué)、地質(zhì)學(xué)、金屬、半導(dǎo)體材料等領(lǐng)域的科硏。

技術(shù)參數(shù)

• 最大放大倍數(shù)105萬(wàn)倍（1,050,000×）
• 點(diǎn)分辨率0.24nm加速電壓：200KV
• 極限（信息）分辨率0.14nm
• STEM分辨率0.2nm
• 最小束斑尺寸0.2nm
• 物鏡球差系數(shù)Cs1.2nm
• 物鏡色差系數(shù)Cc1.2nm
• Ⅹ射線能譜范圍B5~U92X
• 射線能譜儀能量分辨率136eV

選型原則 檢測(cè)能力：透射形貌、暗場(chǎng)像、髙分辨像、電子衍射，能譜 應(yīng)用案例 下單網(wǎng)址：www.foftest.com 設(shè)備結(jié)構(gòu)     TECNAI G2 F20透射電子顯微鏡是一個(gè)多功能、多用戶環(huán)境的200KV場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡。該儀器配備了STEM、EDX、HADF、CCD等附件，能采集TEM明場(chǎng)、暗場(chǎng)像和髙分辨像，能進(jìn)行選區(qū)電子衍射，能進(jìn)行EDX能譜分析和髙分辨STEM原子序數(shù)像的分析，STEM結(jié)合EⅨ點(diǎn)、線掃描的可以進(jìn)行微區(qū)能譜分析。

上一個(gè)： EBSD背散射 下一個(gè)： 雙向觀測(cè)全譜電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀