HS PA30-X相控陣檢測儀
HS PA30-X是一款功能強大、具備應用多樣性的超聲波相控陣檢測設備。
功能特點
→多能一體,兼容PA(TFM/PCI/PWI)、TOFD檢測及A超檢測功能。
→檢測界面數(shù)據(jù)可視化,檢測速度更快。
→儀器檢測簡單,相控陣晶片自動校準。
→為A/B/C/D/S/L/3D多視圖角度顯示檢測結果,判斷缺陷更簡單。
應用
適用于碳鋼、不銹鋼、合金鋼、
銅、
鋁等各種金屬材質及非金屬材質的板材、焊縫、鑄件、鍛件、管材等不同加工工藝及結構形態(tài)的內(nèi)部多種缺陷(裂紋、夾雜、疏松、氣孔等)的快速和準確檢測、定位、評估和診斷。