基于自測試的1553總線接口電路快速篩選系統(tǒng)及方法 881     

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一種基于自測試的1553總線接口電路快速篩選系統(tǒng)及方法，用于對Mini?ACE系列1553總線接口電路在完成MCM封裝后做功能異常篩選，剔除協(xié)議失效和存儲器失效電路。系統(tǒng)包括：一次供電、二次供電、主控處理器、I/O輸入輸出、邏輯解碼、VGA控制器、結(jié)果提示和顯示器。主控處理器按照對應(yīng)的篩選模式通過待測電路的HOST接口順序?qū)ζ漭斎牒Y選激勵：啟動RAM測試?停止RAM測試?啟動協(xié)議測試?停止協(xié)議測試，根據(jù)篩選情況將結(jié)果通過提示模塊和顯示器輸出給篩選人員。本發(fā)明用于具有自測試功能的1553系列接口電路的生產(chǎn)過程，可在早期剔除失效電路，避免了在生產(chǎn)過程中對失效電路進(jìn)行常規(guī)的反熔絲結(jié)構(gòu)熔燒、三溫測試和有效性測試等工作，大大減少了工時浪費(fèi)，提高了生產(chǎn)效率及產(chǎn)能。

基于MLE和蒙特卡羅仿真的衛(wèi)星壽命預(yù)測方法 1011     

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本發(fā)明提供了基于MLE和蒙特卡羅仿真的衛(wèi)星壽命預(yù)測方法。該方法將衛(wèi)星失效分為隨機(jī)失效和耗損失效兩大類，建立隨機(jī)失效產(chǎn)品的壽命模型，根據(jù)衛(wèi)星隨機(jī)失效產(chǎn)品各單機(jī)失效率和其可靠性邏輯關(guān)系，采用蒙特卡羅仿真方法，求得衛(wèi)星系統(tǒng)隨機(jī)失效的首次故障前平均時間MTTF，由此獲得衛(wèi)星系統(tǒng)隨機(jī)失效可靠性函數(shù)R_隨機(jī)(t)；建立耗損失效產(chǎn)品的壽命模型，根據(jù)衛(wèi)星耗損失效產(chǎn)品各單機(jī)可靠性邏輯關(guān)系及其耗損壽命均值和方差，利用蒙特卡羅仿真方法，計算得到衛(wèi)星耗損壽命的均值和方差估計，由此獲得衛(wèi)星系統(tǒng)耗損失效可靠性函數(shù)R_耗損(t)；將衛(wèi)星系統(tǒng)隨機(jī)失效和耗損失效函數(shù)進(jìn)行綜合解析，得到衛(wèi)星平均任務(wù)持續(xù)時間MMD，以此作為衛(wèi)星系統(tǒng)的壽命預(yù)測結(jié)果。該方法計算準(zhǔn)確客觀。

存儲器輻照測試方法以及實(shí)現(xiàn)該方法的裝置 1003     

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本發(fā)明為一種存儲器輻照測試方法以及實(shí)現(xiàn)該方法的裝置,其包括:輻射源、電平轉(zhuǎn)換電路、主控單元、數(shù)據(jù)輸入單元以及系統(tǒng)配置和處理單元。用以實(shí)現(xiàn)對存儲器件的動態(tài)輻照測試,首先進(jìn)行初始化操作,對至少一被測存儲器件寫入指定數(shù)據(jù),然后開啟輻射源對被測存儲器件進(jìn)行規(guī)定強(qiáng)度、規(guī)定距離、規(guī)定時間的輻照;在測試過程中根據(jù)特定的讀寫模式向所述被測存儲器件讀出數(shù)據(jù)/寫入數(shù)據(jù);實(shí)時的將被測存儲器件的實(shí)際輸出值和預(yù)期值進(jìn)行對比,判斷其是否正確;一旦出現(xiàn)錯誤數(shù)據(jù),立刻記錄其失效信息;一次實(shí)驗(yàn)就能找到被測存儲器件失效的臨界點(diǎn)。從而達(dá)到整個過程都在同步動態(tài)記錄,減少了實(shí)驗(yàn)次數(shù),節(jié)約測試成本的目的。

面向GUI軟件的可靠性加速測試方法 1079     

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本發(fā)明公開了一種面向GUI軟件的可靠性加速測試方法，步驟如下：1、提取標(biāo)識詞與特征，形成標(biāo)識詞鏈和特征集合；2、進(jìn)行等價類劃分；3、將每一步輸入內(nèi)容歸到相應(yīng)等價類下；4、將基礎(chǔ)測試用例集合劃分為各類結(jié)構(gòu)信息與內(nèi)容信息均相同的測試用例集合；5、根據(jù)映射關(guān)系，將測試用例的每一步輸入內(nèi)容轉(zhuǎn)化為失效信息或者正常信息，并進(jìn)行標(biāo)識；6、按序執(zhí)行測試，篩選各類測試用例執(zhí)行效果為失效和第一個執(zhí)行效果為正常的測試用例；7、累加相鄰失效間隔之間用例的執(zhí)行時間作為失效數(shù)據(jù)進(jìn)行軟件可靠性評估。優(yōu)點(diǎn)：基于運(yùn)行分類的思想，減少測試用例數(shù)量和測試時間提高GUI軟件可靠性測試效率，保證失效數(shù)據(jù)可進(jìn)行定量的軟件可靠性評估。

用于PBGA封裝器件的測試方法 875     

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本發(fā)明公開了一種用于PBGA封裝器件在熱振耦合環(huán)境下進(jìn)行壽命測試的方法，該方法將單個測試器件的所有焊點(diǎn)依次串聯(lián)形成一條開環(huán)的菊花鏈電路，對100～200個均形成開環(huán)電路的測試器件進(jìn)行等分分組并固定于三綜合試驗(yàn)臺上，依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)對測試器件進(jìn)行溫度循環(huán)試驗(yàn)和隨機(jī)振動試驗(yàn)，同時監(jiān)測電阻值以判定焊點(diǎn)是否失效并獲得焊點(diǎn)的失效時間，當(dāng)測試器件的失效數(shù)量滿足指定失效數(shù)量時停止試驗(yàn)。通過改變隨機(jī)振動試驗(yàn)的量值并重新試驗(yàn)以獲得不同應(yīng)力條件下的失效時間，根據(jù)威布爾分布擬合獲取PBGA封裝器件熱振耦合環(huán)境下的壽命。

醫(yī)療設(shè)備使用壽命的預(yù)測方法及裝置 795     

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本發(fā)明提供了一種醫(yī)療設(shè)備使用壽命的預(yù)測方法及裝置，方法包括：獲取至少兩個同一種類型待預(yù)測醫(yī)療設(shè)備在至少一種加速應(yīng)力下的至少兩個失效時長；根據(jù)所述至少兩個失效時長進(jìn)行模型計算處理，確定至少兩種分布模型；計算所述至少兩個失效時長在服從每一種分布模型時的當(dāng)前擬合優(yōu)度；根據(jù)得到的至少兩個當(dāng)前擬合優(yōu)度，篩選出所述失效時長實(shí)際所服從的目標(biāo)分布模型；根據(jù)所述失效時長實(shí)際所服從的目標(biāo)分布模型，預(yù)測該類型待預(yù)測醫(yī)療設(shè)備的使用壽命。本方案，利用擬合優(yōu)度篩選出的目標(biāo)分布模型，更能表征失效時長的實(shí)際分布情況，進(jìn)而在利用該目標(biāo)分布模型預(yù)測使用壽命時的預(yù)測準(zhǔn)確性更高。

基于極端梯度提升樹算法的電子器件剩余壽命預(yù)測方法 735     

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公開了一種基于極端梯度提升樹算法的電子器件剩余壽命預(yù)測方法，包括：獲得電子器件在相同條件下的多組老化數(shù)據(jù)；對多組老化數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理并結(jié)合電子器件失效機(jī)理獲得失效變量；對預(yù)處理后的老化數(shù)據(jù)進(jìn)行變量之間的互相關(guān)系數(shù)計算，獲得與失效變量間關(guān)聯(lián)度不小于關(guān)聯(lián)閾值的特征變量；根據(jù)特征變量所對應(yīng)的老化數(shù)據(jù)建立基于極端梯度提升樹算法的老化模型；根據(jù)老化模型獲得失效變量的預(yù)測變化值，并結(jié)合設(shè)定的失效閾值，獲得電子器件的剩余壽命。本申請的電子器件剩余壽命預(yù)測方法，采用基于極端梯度提升樹算法的老化模型處理電子器件特征變量所對應(yīng)的老化數(shù)據(jù)，獲得失效變量的預(yù)測變化值得到剩余壽命的方法，預(yù)測精度高，泛化能力強(qiáng)。

錨桿拉拔測試方法、裝置、電子設(shè)備以及存儲介質(zhì) 1023     

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本發(fā)明提供一種錨桿拉拔測試方法、裝置、電子設(shè)備以及存儲介質(zhì)，該方法包括：將錨固巖體試樣與可視化透明裝置進(jìn)行合并安裝得到透明錨固巖體裝置，對透明錨固巖體裝置進(jìn)行錨桿拉拔測試；根據(jù)可視化透明裝置對錨桿拉拔界面失效進(jìn)行動態(tài)監(jiān)測，得到第一錨桿拉拔界面失效特征；在錨桿拉拔測試結(jié)束后，對透明錨固巖體裝置進(jìn)行分離，并根據(jù)分離得到的錨固巖體試確定第二錨桿拉拔界面失效特征；根據(jù)錨桿的拉拔載荷、拉拔位移、第一錨桿拉拔界面失效特征以及第二錨桿拉拔界面失效特征，確定錨固巖體試樣的錨固失效因素；根據(jù)錨固失效因素調(diào)整圍巖錨桿支護(hù)。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)錨桿拉拔可視化測試，提出提高圍巖錨桿可錨性的相關(guān)建議，充分發(fā)揮錨桿支護(hù)作用。

軟件可靠性虛擬測試方法 852     

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本發(fā)明提供了一種軟件可靠性虛擬測試方法，應(yīng)用于軟件可靠性試驗(yàn)領(lǐng)域。本發(fā)明包括：建立測試輸入空間；建立失效輸入空間；對測試輸入空間進(jìn)行隨機(jī)抽樣生成測試輸入向量；計算測試輸入向量與失效輸入空間的匹配度；根據(jù)計算的匹配度與設(shè)定的置信度進(jìn)行比較斷軟件是否失效；根據(jù)失效的各輸入變量的累計執(zhí)行次數(shù)和對應(yīng)的實(shí)際執(zhí)行時間確定失效間隔時間。進(jìn)行匹配度計算時包括輸入變量值的匹配和輸入變量間輸入關(guān)系的匹配。本發(fā)明能夠?yàn)檐浖芷谥械氖?shù)據(jù)獲得在軟件可靠性測試中可能的失效時間，大大減少了測試人員的工作量和測試時間，為軟件可靠性評估提供數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。

蒸汽吞吐有效期的定量測定方法 991     

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本發(fā)明公開了一種蒸汽吞吐有效期的定量測定方法。所述測定方法包括如下步驟：測定熱采井的井底溫度和米采油指數(shù)，得到井底溫度和米采油指數(shù)與時間之間的變化曲線；根據(jù)井底溫度失效判別標(biāo)準(zhǔn)和井底溫度與時間之間的變化曲線得到的時間為第一熱采效果失效點(diǎn)；根據(jù)米采油指數(shù)失效判別標(biāo)準(zhǔn)和米采油指數(shù)與時間之間的變化曲線得到的時間為第二熱采效果失效點(diǎn)；當(dāng)?shù)谝粺岵尚Чc(diǎn)與第二熱采效果失效點(diǎn)的絕對時間差不超過50天時，第一熱采效果失效點(diǎn)和第二熱采效果失效點(diǎn)之和的中間值為熱采井的有效期；當(dāng)?shù)谝粺岵尚Чc(diǎn)與第二熱采效果失效點(diǎn)的絕對時間差超過50天時，第二熱采效果失效點(diǎn)為熱采井的有效期。本發(fā)明提供了一種蒸汽吞吐有效期的定量確定方法，彌補(bǔ)了此方面的空白。

對RRAM存儲器耐久性參數(shù)進(jìn)行測試的方法 825     

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本發(fā)明公開了一種對RRAM存儲器耐久性參數(shù)進(jìn)行測試的方法，該方法包括：判斷RRAM存儲器當(dāng)前所處的狀態(tài)，以確定起始向RRAM存儲器加載的脈沖是編程脈沖還是擦除脈沖；連續(xù)交替的向RRAM存儲器加載編程脈沖和擦除脈沖，并在向RRAM存儲器加載了10^Ln次編程脈沖和擦除脈沖后測試RRAM存儲器的狀態(tài)是否失效，在RRAM存儲器失效時記錄最后使RRAM器件失效的加載編程脈沖和擦除脈沖次數(shù)10^Ln，即得到耐久性參數(shù)為10^Ln-1次，其中Ln＝n-1，n為自然數(shù)。利用本發(fā)明，極大加快了待測器件耐久性參數(shù)的獲取。

晶圓測試結(jié)果加嚴(yán)修正篩選方法 981     

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本發(fā)明一種晶圓測試結(jié)果加嚴(yán)修正篩選方法，使用Map工具軟件，定義邊緣失效芯片、連續(xù)失效芯片、孤立有效芯片的特征識別算法模型，并基于邊緣失效芯片、連續(xù)失效芯片、孤立有效芯片所在區(qū)域的圖形識別，可對該區(qū)域通過晶圓測試的有效芯片進(jìn)行修正，從而將連續(xù)失效芯片區(qū)域邊界上的晶圓測試結(jié)果進(jìn)行加嚴(yán)修正后轉(zhuǎn)置輸出，使得晶圓測試結(jié)果與工藝關(guān)聯(lián)，并將潛在失效芯片過濾，從而提高識別失效芯片的效率和芯片產(chǎn)品輸出的整體可靠性。

pMOSFET器件負(fù)偏置溫度不穩(wěn)定性壽命預(yù)測方法 1069     

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本發(fā)明公開了一種pMOSFET器件負(fù)偏置溫度不穩(wěn)定性壽命預(yù)測方法,包括:S1:施加負(fù)偏置應(yīng)力之前,測量pMOSFET器件的初始特性,得到初始器件參數(shù);S2:對該器件的柵極施加應(yīng)力條件,且漏極電壓為正常工作電壓,在預(yù)設(shè)的時間間隔內(nèi)對該器件進(jìn)行應(yīng)力老化測試;S3:對該器件進(jìn)行參數(shù)測試,得到與老化時間相關(guān)的器件參數(shù),直至總體應(yīng)力時間結(jié)束;S4:漏極電壓為正常工作電壓下,重復(fù)步驟S2和S3,進(jìn)行不同應(yīng)力條件測試,以器件參數(shù)退化到臨界點(diǎn)為準(zhǔn),得到相應(yīng)應(yīng)力條件下pMOSFET器件的失效時間;S5:利用不同應(yīng)力條件下pMOSFET器件的失效時間,預(yù)測柵極電壓為正常工作電壓條件下的器件可靠性壽命,本發(fā)明的方法得到的器件失效時間比常規(guī)方法更短,因此更能反映pMOSFET器件的NBTI壽命。

無人船可靠性測試與評價方法 907     

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本發(fā)明實(shí)施例提供的無人船可靠性測試與評價方法，包括收集待評價無人船的系統(tǒng)及設(shè)備組成，基于待評價無人船的任務(wù)事件梳理故障最低約定層次；基于系統(tǒng)及設(shè)備組成，將待評價無人船任務(wù)事件的故障樹分解至設(shè)備層級；設(shè)置可靠性測試仿真模型的最大工作失效時間、仿真次數(shù)以及故障樹的各基本事件失效分布函數(shù)特征參數(shù)，設(shè)置初始化仿真次數(shù)為0，通過可靠性測試仿真模型進(jìn)行仿真，產(chǎn)生仿真次數(shù)的基本事件的失效事件隨機(jī)抽樣，并依據(jù)失效時間進(jìn)行排序；統(tǒng)計進(jìn)行仿真次數(shù)的仿真后系統(tǒng)的失效時間，并將失效時間與最大工作失效時間進(jìn)行比較，確定失效事件發(fā)生概率；記錄失效時間、統(tǒng)計系統(tǒng)的失效分布，并確定系統(tǒng)的平均故障間隔時間和任務(wù)可靠度。

測試阻變隨機(jī)訪問存儲器件的數(shù)據(jù)保持特性的方法 1120     

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本發(fā)明公開了一種測試RRAM器件的數(shù)據(jù)保持特性的方法，包括以下步驟：a)控制樣品臺的溫度，將RRAM器件保持為預(yù)定的溫度；b)將RRAM器件設(shè)置為高阻態(tài)或低阻態(tài)；c)向RRAM器件施加預(yù)定的測試電壓，使其發(fā)生電阻態(tài)失效，以測量數(shù)據(jù)保持時間；d)重復(fù)步驟a)-c)，進(jìn)行多次測量；e)利用多次測量的數(shù)據(jù)保持時間，計算出RRAM器件的電阻態(tài)失效概率F(t)；以及f)對電阻態(tài)失效概率F(t)進(jìn)行擬合，并利用擬合得到的參數(shù)進(jìn)一步計算出預(yù)期數(shù)據(jù)保持時間tE。優(yōu)選地，利用電壓加速和溫度加速相結(jié)合預(yù)測RRAM器件的數(shù)據(jù)保持時間。該測試方法可以準(zhǔn)確且快速地評估RRAM器件的數(shù)據(jù)保持特性。

防噴器系統(tǒng)可用性預(yù)測方法、裝置、設(shè)備和存儲介質(zhì) 884     

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本申請?zhí)峁┮环N防噴器系統(tǒng)可用性預(yù)測方法、裝置、設(shè)備和存儲介質(zhì)。防噴器系統(tǒng)可用性預(yù)測方法包括：獲取基礎(chǔ)運(yùn)行周期內(nèi)防噴器系統(tǒng)的機(jī)械子系統(tǒng)的各失效模式的基礎(chǔ)失效率，以及基礎(chǔ)運(yùn)行周期內(nèi)防噴器系統(tǒng)的機(jī)械子系統(tǒng)的定期測試數(shù)據(jù)、安裝測試數(shù)據(jù)和維修數(shù)據(jù)；根據(jù)威布爾分布和所述基礎(chǔ)失效率構(gòu)建所述機(jī)械子系統(tǒng)的失效率模型；采用所述失效率模型擬合所述機(jī)械子系統(tǒng)在目標(biāo)運(yùn)行周期內(nèi)各失效模式的目標(biāo)失效率；根據(jù)所述目標(biāo)失效率和所述機(jī)械子系統(tǒng)的定期測試數(shù)據(jù)、安裝測試數(shù)據(jù)和維修數(shù)據(jù)構(gòu)建馬爾可夫模型；根據(jù)馬爾可夫模型確定防噴器系統(tǒng)在目標(biāo)運(yùn)行周期內(nèi)的可用性。本申請的方法，提高了預(yù)測的防噴器系統(tǒng)可用性的準(zhǔn)確度。

軟件測試方法及其裝置 821     

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本發(fā)明公開了一種軟件測試方法及其裝置，設(shè)定一測試程序；對所述一測試程序分別進(jìn)行揭錯測試和可靠性測試，得到缺陷失效后對應(yīng)的L組測試失效數(shù)據(jù)，所述測試失效數(shù)據(jù)包括揭錯測試過程信息及對應(yīng)的程序失效率，L為大于等于1的正整數(shù)；根據(jù)L組測試失效數(shù)據(jù)，確定用于指示所述揭錯測試過程信息與所述程序失效率之間關(guān)系的約束方程，從而在以揭錯為目的的軟件測試中，確定揭錯測試過程信息，根據(jù)指示所述揭錯測試過程信息與所述程序失效率之間關(guān)系的約束方程預(yù)測程序失效率，從而達(dá)到合并揭錯和可靠性評估的目的。

基于混合測試的軟件可靠性評估方法及其裝置 1101     

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本發(fā)明公開了一種基于混合測試的軟件可靠性評估方法及其裝置,屬于軟件可靠性工程領(lǐng)域,所述方法通過確定被測軟件的缺陷失效率分布,得到缺陷失效率分布函數(shù)和密度函數(shù);然后根據(jù)次序統(tǒng)計量確定次序缺陷失效率的密度函數(shù)、次序缺陷失效率期望值和軟件失效率期望值;對被測軟件進(jìn)行混合測試,利用混合測試結(jié)果數(shù)據(jù),確定分布參數(shù)。本發(fā)明充分結(jié)合并利用運(yùn)行測試和針對性測試的優(yōu)點(diǎn),克服傳統(tǒng)可靠性測試忽視軟件結(jié)構(gòu)內(nèi)部信息、測試用例多、測試時間長、資源消耗大等缺點(diǎn),縮短了軟件可靠性測試的時間,加快了軟件缺陷暴露速度及軟件可靠性測試的進(jìn)程,同時也大大減少了測試費(fèi)用和資源消耗。

故障預(yù)測性能的評估方法及裝置 992     

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本發(fā)明公開了一種故障預(yù)測性能的評估方法及裝置，可以確定目標(biāo)板卡中的至少一個關(guān)鍵電路；確定各關(guān)鍵電路的關(guān)鍵失效模式失效率，確定目標(biāo)板卡的總關(guān)鍵失效模式失效率；分別確定各關(guān)鍵電路的關(guān)鍵失效模式失效率對應(yīng)的可預(yù)測關(guān)鍵失效模式失效率，確定目標(biāo)板卡的總可預(yù)測關(guān)鍵失效模式失效率；基于目標(biāo)板卡的總關(guān)鍵失效模式失效率和總可預(yù)測關(guān)鍵失效模式失效率，確定目標(biāo)板卡的預(yù)測覆蓋率；基于目標(biāo)板卡的預(yù)測覆蓋率，評估對目標(biāo)板卡的故障預(yù)測性能。本發(fā)明提出目標(biāo)板卡的預(yù)測覆蓋率這一評估性指標(biāo)，并可以確定出目標(biāo)板卡的預(yù)測覆蓋率，利用確定出的預(yù)測覆蓋率實(shí)現(xiàn)對目標(biāo)板卡的故障預(yù)測效果的定量評價，有效實(shí)現(xiàn)對目標(biāo)板卡的故障預(yù)測性能的評估。

面向城市交通主動控制的測試驗(yàn)證系統(tǒng) 810     

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本發(fā)明公開了一種面向城市交通主動控制的測試驗(yàn)證系統(tǒng)，屬于城市道路交通技術(shù)領(lǐng)域，該系統(tǒng)包括：以虛擬交通信號機(jī)和實(shí)體交通信號機(jī)信號連接形成的“在線”的交通控制仿真系統(tǒng)、“在環(huán)”的半實(shí)物沙盤模擬系統(tǒng)和“現(xiàn)場”的交通控制系統(tǒng)；仿真過程可以無限制驗(yàn)證控制策略，并將控制策略首先送入半實(shí)物沙盤模擬系統(tǒng)，當(dāng)控制策略被驗(yàn)證為可用、安全時，再將控制策略輸入給“現(xiàn)場”的實(shí)際交通信號控制機(jī)，這樣就形成了“在線?在環(huán)?現(xiàn)場”的執(zhí)行檢驗(yàn)方式，通過該系統(tǒng)能夠有效解決交通控制策略在理論研究中效果明顯，而在實(shí)際應(yīng)用時經(jīng)常出現(xiàn)模型失配、控制策略失效等存在的嚴(yán)重問題。

犧牲陽極發(fā)生電流監(jiān)測探頭 1158     

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本實(shí)用新型公開了犧牲陽極發(fā)生電流監(jiān)測探頭。本實(shí)用新型提供的探頭包括如下組件:犧牲陽極支撐腿(1)、霍爾傳感器組件、水密電纜(5)、填充材料(6)、絕緣封裝殼體(7)和磁屏蔽外護(hù)套(8);霍爾傳感器組件由霍爾傳感器(2)、導(dǎo)磁環(huán)(3)和霍爾傳感器電路(4)組成;導(dǎo)磁環(huán)套設(shè)于犧牲陽極支撐腿上;霍爾傳感器設(shè)于導(dǎo)磁環(huán)開口中;霍爾傳感器電路與霍爾傳感器電連接;霍爾傳感器組件封裝于絕緣封裝殼體內(nèi);絕緣封裝殼體套設(shè)于犧牲陽極支撐腿上;磁屏蔽外護(hù)套包覆于絕緣封裝殼體外;水密電纜一端與霍爾傳感器電路電連接,另一端伸出磁屏蔽外套;除了霍爾傳感器組件,密封腔內(nèi)充滿填充材料。由于采用霍爾傳感器組件檢測電流,本實(shí)用新型的探頭不破壞犧牲陽極結(jié)構(gòu),即使探頭發(fā)生故障,也不影響犧牲陽極正常工作,不會導(dǎo)致陰極保護(hù)系統(tǒng)失效,并且降低了施工成本和安全成本。

環(huán)網(wǎng)柜監(jiān)測接口結(jié)構(gòu) 882     

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本實(shí)用新型提出一種環(huán)網(wǎng)柜監(jiān)測接口結(jié)構(gòu)，涉及聲表器件領(lǐng)域，包括法蘭盤及用于監(jiān)測環(huán)網(wǎng)柜內(nèi)部溫度、濕度及壓力的PCBA板，所述PCBA板設(shè)于法蘭盤之上，所述法蘭盤包括圓形底板及設(shè)于所述圓形底板之上的圓柱形凸臺，所述圓柱形凸臺之上設(shè)有第一容納腔及第二容納腔，所述第一容納腔內(nèi)部設(shè)有SMA接口及連接于PCBA板的連接線，所述第二容納腔的內(nèi)部設(shè)有4PIN數(shù)據(jù)接口及連接于PCBA板的連接線，所述連接線環(huán)繞成彈簧形狀置于所述第一容納腔及第二容納腔內(nèi)部。本實(shí)用新型解決了氣密性環(huán)網(wǎng)柜內(nèi)部與外部的電路連接線會因微振動出現(xiàn)漏氣而失效的問題，此外，內(nèi)置攝像頭可對轉(zhuǎn)動臂閉合與斷開狀態(tài)進(jìn)行清晰成像，在設(shè)備檢修時對確保人生安全上具有重要意義。

對不間斷電源中的電池進(jìn)行監(jiān)測的方法和裝置 744     

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提供一種用于對不間斷電源中的電池進(jìn)行監(jiān)測的方法和裝置，所述方法包括：停止對不間斷電源的外部電源輸入，并由不間斷電源中包括的電池對負(fù)載進(jìn)行供電；在由所述電池對負(fù)載進(jìn)行供電時，檢測所述電池的放電系數(shù)以及所述電池在將存儲電量釋放第一預(yù)定百分比時的放電時間；根據(jù)電池的放電系數(shù)在所述電池的多條標(biāo)準(zhǔn)放電曲線之中選擇一條標(biāo)準(zhǔn)放電曲線；通過將所述放電時間與所述一條標(biāo)準(zhǔn)放電曲線進(jìn)行比較來確定所述電池是否失效。

可實(shí)現(xiàn)微動磨損與疲勞復(fù)合工況的模擬測試試驗(yàn)臺 801     

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一種可實(shí)現(xiàn)微動磨損與疲勞復(fù)合工況的模擬測試試驗(yàn)臺，包括：框架，直線導(dǎo)軌，第一滑塊，第二滑塊，第三滑塊，凸桿，加載螺桿，第一自鎖螺母，支撐桿，拉力傳感器，螺桿，第二自鎖螺母。本發(fā)明通過平臺直線導(dǎo)軌的設(shè)計和球頭連接的設(shè)計，既保證了兩側(cè)摩擦副保持同軸性的基礎(chǔ)上自平衡法向力，又使摩擦副能與試驗(yàn)樣品實(shí)現(xiàn)緊密接觸，從而達(dá)到微動磨損與疲勞復(fù)合作用的試驗(yàn)?zāi)康?。本發(fā)明還使用螺栓加載方式并有自鎖裝置，使用高精度拉力傳感器實(shí)時檢測試驗(yàn)過程中法向力的變化，操作簡單，精度高，可適用于點(diǎn)、線、面不同損傷形式的微動磨損與疲勞復(fù)合作用失效研究。

系統(tǒng)監(jiān)測容災(zāi)預(yù)警裝置及預(yù)警方法 736     

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本發(fā)明公開了一種系統(tǒng)監(jiān)測容災(zāi)預(yù)警裝置及預(yù)警方法，系統(tǒng)監(jiān)測容災(zāi)預(yù)警裝置由一個服務(wù)注冊中心、一個監(jiān)控管理中心和若干個服務(wù)模塊組成；服務(wù)注冊中心與監(jiān)控管理中心連接，各個服務(wù)模塊內(nèi)均設(shè)置有一個主監(jiān)控信號發(fā)送裝置，監(jiān)控管理中心記錄管理各服務(wù)模塊內(nèi)的主監(jiān)控信號發(fā)送裝置，每個服務(wù)模塊內(nèi)還設(shè)置有多個獨(dú)立運(yùn)行的服務(wù)單元，每個服務(wù)單元內(nèi)均設(shè)置有一個服務(wù)單元監(jiān)控信號發(fā)送基礎(chǔ)裝置。在本發(fā)明的整個監(jiān)控體系中，信號主動由下向上發(fā)送，一次發(fā)送之后結(jié)束，下級裝置不關(guān)心上級裝置的運(yùn)行裝置，此種方式能夠很好的簡化網(wǎng)絡(luò)請求。上級服務(wù)在周期內(nèi)未接收到任何信息則認(rèn)為下級模塊失效，無需做過多符合請求檢驗(yàn)，減少網(wǎng)絡(luò)開銷，減低時延。

含表面劃傷復(fù)合凹陷油氣管道極限內(nèi)壓的預(yù)測方法 1045     

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本發(fā)明公開一種含表面劃傷復(fù)合凹陷油氣管道極限內(nèi)壓的預(yù)測方法，根據(jù)已建立的含表面劃傷缺陷管道的有限元模型，設(shè)定工作內(nèi)壓為零條件下，采用施痕物對管道模型施加位移載荷使管道產(chǎn)生凹陷，基于凈截面失效準(zhǔn)則判據(jù)，計算管道極限凹陷深度H，當(dāng)實(shí)際凹陷深度h大于極限凹陷深度H時，缺陷管道可繼續(xù)安全運(yùn)行；當(dāng)實(shí)際凹陷深度大于極限凹陷深度H時，基于有限元模型獲得的極限內(nèi)壓預(yù)測模型，將現(xiàn)場檢測得到的劃傷及凹陷的特征量代入模型中計算含劃傷復(fù)合凹陷管道可安全運(yùn)行的極限內(nèi)壓。該方法能夠解決含有表面劃傷及凹陷損傷的油氣管道的安全性預(yù)測問題。

偶發(fā)性交通擁堵持續(xù)時間的數(shù)據(jù)提取與實(shí)時預(yù)測方法 766     

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本發(fā)明涉及一種偶發(fā)性交通擁堵持續(xù)時間的數(shù)據(jù)提取與實(shí)時預(yù)測方法，包括步驟1：交通流參數(shù)原始數(shù)據(jù)的獲取與預(yù)處理，步驟2：偶發(fā)性擁堵事件的提取，步驟3：構(gòu)造偶發(fā)性擁堵事件持續(xù)時間的樣本數(shù)據(jù)，步驟4：構(gòu)建偶發(fā)性擁堵持續(xù)時間的風(fēng)險模型，并基于歷史數(shù)據(jù)估計模型參數(shù)，步驟5：獲取實(shí)時數(shù)據(jù)，對新的偶發(fā)性擁堵持續(xù)時間進(jìn)行估計。所述方法基于具體道路情況的速度?飽和度關(guān)系模型和占有率的標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)變差指標(biāo)來提取偶發(fā)性擁堵事件，通過交通檢測系統(tǒng)和GIS地圖匹配技術(shù)獲取偶發(fā)性擁堵持續(xù)時間的樣本數(shù)據(jù)，運(yùn)用加速失效風(fēng)險模型構(gòu)建偶發(fā)性擁堵持續(xù)時間的數(shù)學(xué)模型，基于歷史數(shù)據(jù)對模型進(jìn)行擬合和參數(shù)標(biāo)定，進(jìn)而對偶發(fā)性擁堵事件進(jìn)行實(shí)時預(yù)測。

低頻、小幅度振動信號的測量裝置 722     

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本實(shí)用新型提供了一種低頻、小幅度振動信號的測量裝置。該裝置主要包括：加速度傳感器，和前置處理器連接，設(shè)置在被測對象上，檢測到被測對象發(fā)出的低頻、小幅度振動信號后，將該低頻、小幅度振動信號轉(zhuǎn)換為振動加速度信號，將所述振動加速度信號輸出給前置處理器，前置處理器，和所述加速度傳感器連接，對所述加速度傳感器輸出過來的振動加速度信號進(jìn)行第一次積分放大，獲得振動速度信號，對振動速度信號進(jìn)行第二次積分放大，獲得振動位移信號。本實(shí)用新型實(shí)施例克服了由于機(jī)械部件的機(jī)械疲勞和卡死等現(xiàn)象而導(dǎo)致的測量信號失效問題，加速度傳感器的諧振頻率遠(yuǎn)高于水輪發(fā)電機(jī)組的結(jié)構(gòu)等被測對象的最高有效振動頻率，加速度傳感器的共振信號將被完全濾除，保證后端電路不受加速度傳感器的共振信號的影響。

CMOS器件壽命預(yù)測方法、裝置、電子設(shè)備及介質(zhì) 737     

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本公開實(shí)施例公開了一種CMOS器件壽命預(yù)測方法、裝置、電子設(shè)備及介質(zhì)。其中CMOS器件壽命預(yù)測方法包括：獲取CMOS器件在加速應(yīng)力試驗(yàn)下電參數(shù)的時間序列樣本數(shù)據(jù)集，所述時間序列樣本數(shù)據(jù)集包括表征所述CMOS器件壽命的電參數(shù)退化量的時間序列樣本數(shù)據(jù)；基于所述時間序列樣本數(shù)據(jù)集得到訓(xùn)練集；用所述訓(xùn)練集訓(xùn)練時序模型，獲得壽命預(yù)測模型；用所述壽命預(yù)測模型預(yù)測所述CMOS器件的失效時間。上述技術(shù)方案減少了現(xiàn)有技術(shù)中因?qū)MOS器件進(jìn)行完整的加速應(yīng)力試驗(yàn)以確定其使用壽命的時間成本，提高了產(chǎn)品質(zhì)檢效率，縮短了CMOS器件的生產(chǎn)周期，解決了CMOS器件生產(chǎn)效率低的問題。

斷路器防跳回路測試裝置 972     

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本實(shí)用新型公開了一種斷路器防跳回路測試裝置，包括電源指示模塊（1）、告警模塊（2）、合閘模塊（3）、分閘模塊（4）、測試按鈕（5）、處理器（6）和電源模塊（7）。在處理器（6）控制下自動控制合閘分閘操作，進(jìn)行斷路器防跳回路測試。它提供一種能夠安全、簡便、準(zhǔn)確、測試斷路器防跳回路性能的自動裝置，有效避免了斷路器防跳功能失效時，“開關(guān)跳躍”現(xiàn)象對斷路器所造成巨大損壞，避免了斷路器多次分合閘所造成的斷路器損壞。使用該裝置，一人可以單獨(dú)進(jìn)行實(shí)驗(yàn)，有效提高了實(shí)驗(yàn)效率和實(shí)驗(yàn)的成功率。同時，它提供光學(xué)報警功能，使檢驗(yàn)工作更加直觀、高效。