本發(fā)明屬于納米材料類超導(dǎo)性能及電學(xué)性能測量領(lǐng)域。一種安裝在掃描探針顯微鏡中的原位微型單元大電流測量裝置,包括樣品平臺、電路部分,其特征在于它還包括一個能放入掃描探針顯微鏡中的原位電學(xué)測量平臺,其上設(shè)置一個支撐部分為絕緣襯底(4)的探針夾持器(3),探針夾持器(3)杠桿式安裝在絕緣襯底(4)上,并通過連接電纜(2)外接可控電壓源。本發(fā)明利用掃描探針顯微鏡原位實時記錄待測微晶體功能材料在大功率電場作用下的電學(xué)性質(zhì)以及電場誘發(fā)的微晶體結(jié)構(gòu)狀態(tài)變化,將微型單元的電學(xué)性質(zhì)與微觀結(jié)構(gòu)變化直接對應(yīng)起來,從納米尺度上揭示微晶體功能材料的類超導(dǎo)大功率電學(xué)性質(zhì)。