本發(fā)明公開一種硅納米線—聚吡咯
復(fù)合材料的制備方法,以硝酸銀和氫氟酸對(duì)單晶硅片進(jìn)行金屬輔助化學(xué)刻蝕,以在單晶硅片形成垂直于表面的硅納米線,然后在單晶硅片表面旋涂十二烷基苯磺酸和過硫酸銨的混合溶液,再置于密閉聚合裝置中,吡咯單體溶液的上方,抽為負(fù)壓進(jìn)行聚合,以得到硅納米線—聚吡咯復(fù)合材料。本發(fā)明克服傳統(tǒng)液相化學(xué)聚合法和
電化學(xué)制備方法的諸多缺點(diǎn),制備方法簡(jiǎn)單,成本低廉,功耗低,合成的聚吡咯薄膜致密均勻,利用本發(fā)明方法構(gòu)筑的聚吡咯表面修飾一維硅基氣敏材料對(duì)特定氣體具有高的室溫靈敏度和快速響應(yīng)恢復(fù)性能。
聲明:
“硅納米線—聚吡咯復(fù)合材料的制備方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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