本發(fā)明公開了一種地表幾何粗糙度測量裝置,其包括:上下兩個弧形斷面支撐尺、一組固定于弧形斷面支撐尺上的導向槽座、一組探針、固定兩個弧形斷面支撐尺的兩個側邊支撐桿、連接兩個側邊支撐桿的橫桿、位于橫桿上的水平泡、多組不同尺寸的接觸靴、固定于側邊支撐桿上的背景黑布。該裝置機械結構簡單、輕巧便攜、成本低、測量精度高,可以用于農業(yè)、土壤學、地質、微波遙感等應用領域中對地表幾何粗糙度的測量。
聲明:
“地表幾何粗糙度測量裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)