根據(jù)本發(fā)明,一種用于例如晶片之類的試樣的化學(xué)機(jī)械拋光裝置(100),包括被結(jié)合其中的內(nèi)置檢驗裝置(25)。該拋光裝置(100)還包括裝載單元(21)、化學(xué)機(jī)械拋光單元(22)、清洗單元(23)、烘干單元(24)和卸載單元(26)?;瘜W(xué)機(jī)械拋光裝置(100)從前面的步驟(107)接收試樣,通過由設(shè)置在拋光裝置(100)內(nèi)的所述各單元對試樣執(zhí)行各過程并隨后將被加工的試樣傳送至后續(xù)步驟(109)。對在各單元之間傳送試樣而言,試樣裝載和卸載裝置和試樣傳送裝置不再必需。
聲明:
“具有內(nèi)置檢測裝置的半導(dǎo)體制造裝置和使用該制造裝置的器件制造方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)