本發(fā)明公開了一種測定顆粒物分形維數(shù)的方法，屬于顆粒物檢測技術領域，旨在解決現(xiàn)有光學方法測定結果容易受顆粒物折射率及分散相顏色等因素干擾，且在實際應用過程中光室的耐污性較差，即使輕微的污染也會造成較大的測量誤差等問題。本發(fā)明繞過現(xiàn)有光學方法，用連接有電導電極的商業(yè)電化學阻抗儀測定不同顆粒物濃度的顆粒懸濁液樣品的電學特征參數(shù)，根據(jù)建立的電學參數(shù)與顆粒物濃度的無標度模型提取出顆粒物的分形維數(shù)。與目前現(xiàn)有方法相比，本發(fā)明不受待測顆粒物及分散相的折射率和顏色的影響，且由于沒有光路系統(tǒng)，抗雜質污染影響的能力較強，設備維護相對簡單，更能適應工業(yè)生產(chǎn)運行中的實際使用環(huán)境。