本公開涉及一種電池包壽命預(yù)測方法、存儲介質(zhì)以及電子設(shè)備，涉及電池技術(shù)領(lǐng)域，該方法包括：確定待測電池包內(nèi)的每個單體電池的初始的電池特性參數(shù)；根據(jù)預(yù)先構(gòu)建的容量衰退模型、以及預(yù)先構(gòu)建的電化學(xué)?熱耦合模型對所述單體電池進(jìn)行循環(huán)充放電模擬，以得到每次充放電模擬過程所述單體電池的端電壓，從而根據(jù)端電壓確定待測電池包的使用壽命。本公開的有益效果是：不僅能夠準(zhǔn)確對電池包的壽命進(jìn)行預(yù)測，而且相比現(xiàn)有技術(shù)能夠大幅縮短測試周期以及節(jié)省測試資源。