一種集成壓力、流量、溫度等參數(shù)測(cè)量的微傳感
芯片及制作方法,主要包括壓力傳感區(qū)域、流量與溫度傳感區(qū)域,本發(fā)明基于硅加工工藝,首先在基底整個(gè)硅層上方熱氧化一層二氧化硅,在壓力傳感區(qū)域二氧化硅層上進(jìn)行局部摻雜分別形成接觸電阻和壓敏電阻,再在整個(gè)硅片兩面都熱氧化沉積一層二氧化硅與低壓化學(xué)氣相沉積(LPCVD)一層低應(yīng)力氮化硅,在流量傳感區(qū)域用剝離法沉積一層鉻和鉑圖形,在硅片正面壓力傳感區(qū)域局部刻蝕氮化硅和二氧化硅,再沉積一層鋁或金膜圖形形成整個(gè)芯片電極,流量傳感區(qū)域有部分鉻和鉑圖形為環(huán)境溫度測(cè)量,最后同時(shí)進(jìn)行壓力傳感薄膜與流量傳感薄膜下硅刻蝕。本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)是該微傳感芯片集成壓力、流量、溫度等參數(shù)測(cè)量、體積小、制造工藝簡單、可靠性高。
聲明:
“壓力流量溫度集成芯片及其制作方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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