本發(fā)明公開了一種奧克托今顆粒表面粗糙度檢測(cè)方法，該方法通過將奧克托今粗品顆粒精制，確定需要抽取的待測(cè)樣品的數(shù)目，依據(jù)隨機(jī)數(shù)表抽取待測(cè)樣品，測(cè)量待測(cè)樣品的表面粗糙度，計(jì)算輪廓算術(shù)平均偏差平均值與輪廓算術(shù)平均偏差示值誤差，最后報(bào)告與表示。本發(fā)明采用光學(xué)法進(jìn)行測(cè)試，實(shí)現(xiàn)了無損、非接觸測(cè)試，量化奧克托今顆粒表面粗糙度值，以此分析和評(píng)價(jià)高品質(zhì)奧克托今。