本發(fā)明公開了一種基于機(jī)器視覺的電子元件檢查方法,包括如下步驟:步驟一、收集電子元件表面的損害圖像樣本和電子元件無損害的圖像樣本,同時收集電子元件表面的損害圖像樣本對應(yīng)的超聲波探傷信號以及電子元件無損害的圖像樣本對應(yīng)的超聲波探傷信號;步驟二、對電子元件表面的損害圖像的損壞種類進(jìn)行人工標(biāo)注,得到標(biāo)注后的電子元件表面的損害圖像樣本。本發(fā)明實現(xiàn)了對電子元件的視覺檢測與超聲檢測相結(jié)合的自動檢測方法,通過兩種檢測方法結(jié)合,大大提高了檢測的準(zhǔn)確性,此外實現(xiàn)了電子元件的自動檢測,節(jié)省了人工,有效降低了漏檢率。
聲明:
“基于機(jī)器視覺的電子元件檢查方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)