本發(fā)明涉及基于納米帶集成基片的可視化激光功率探測(cè)器及測(cè)量方法,屬于光電探測(cè)領(lǐng)域。通過(guò)可控的化學(xué)氣相沉積方法在單基片上合成鋅摻雜的硫化鎘納米帶,利用功率可調(diào)的紫外激光器定標(biāo),完成不同功率下納米結(jié)構(gòu)基片對(duì)應(yīng)的光致發(fā)光光譜的測(cè)量以及對(duì)應(yīng)顯示顏色,可實(shí)現(xiàn)從紫外到藍(lán)綠光波段注入激光功率的精確探測(cè)以及通過(guò)在微區(qū)范圍內(nèi)實(shí)時(shí)的顏色變化可實(shí)現(xiàn)對(duì)入射激光功率以及光斑功率分布情況的可視化實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。與現(xiàn)有的市場(chǎng)化的功率探測(cè)器相比,其具有探測(cè)材料制作成本低廉,無(wú)需外部電壓激勵(lì)源,沒(méi)有熱的積累,無(wú)需復(fù)雜高成本的信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊,具有更好的環(huán)境適應(yīng)性,可實(shí)時(shí)觀測(cè)等優(yōu)勢(shì),特別是在微區(qū)光功率的評(píng)定方面,可以實(shí)現(xiàn)大功率密度無(wú)損傷實(shí)時(shí)感知。
聲明:
“基于納米帶集成基片的可視化激光功率探測(cè)器及測(cè)量方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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