本申請(qǐng)公開一種標(biāo)點(diǎn)預(yù)測(cè)方法和裝置,預(yù)測(cè)模型,存儲(chǔ)介質(zhì)和電子設(shè)備,其中預(yù)測(cè)方法包括:將無標(biāo)點(diǎn)文本信息輸入到構(gòu)建的標(biāo)點(diǎn)預(yù)測(cè)模型中的第一標(biāo)點(diǎn)預(yù)測(cè)子模型中進(jìn)行第一次標(biāo)點(diǎn)預(yù)測(cè),確定第一預(yù)測(cè)標(biāo)點(diǎn);確定所述第一預(yù)測(cè)標(biāo)點(diǎn)是否滿足設(shè)置的目標(biāo)預(yù)測(cè)標(biāo)點(diǎn)輸出要求;若否,則通過所述標(biāo)點(diǎn)預(yù)測(cè)模型中與所述第一標(biāo)點(diǎn)預(yù)測(cè)子模型連接的第二標(biāo)點(diǎn)預(yù)測(cè)子模型,對(duì)所述無標(biāo)點(diǎn)文本信息進(jìn)行第二次標(biāo)點(diǎn)預(yù)測(cè),確定第二預(yù)測(cè)標(biāo)點(diǎn);將所述第二預(yù)測(cè)標(biāo)點(diǎn)確定為所述目標(biāo)預(yù)測(cè)標(biāo)點(diǎn)進(jìn)行輸出,從而保證標(biāo)點(diǎn)預(yù)測(cè)無損失的前提下,減少計(jì)算量。
聲明:
“標(biāo)點(diǎn)預(yù)測(cè)方法和裝置,預(yù)測(cè)模型,存儲(chǔ)介質(zhì)和電子設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)