本發(fā)明涉及一種用于鼠標(biāo)電路的功能測試系統(tǒng)及方法,其中系統(tǒng)包括主控電路,所述的主控電路包括功能測試模塊,所述的功能測試模塊用以對鼠標(biāo)電路在測試模式下進(jìn)行功能測試,并區(qū)分測試成功的鼠標(biāo)電路和測試失敗的鼠標(biāo)電路,所述的功能測試包括外打指令測試、外部按鍵測試、USB功能測試、RAM測試、ROM測試、DSP測試和PD測試中的至少一種。采用該種結(jié)構(gòu)的用于鼠標(biāo)電路的功能測試系統(tǒng)及方法,對成品電路進(jìn)行測試,使得封裝等后續(xù)環(huán)節(jié)中導(dǎo)致失效的電路能夠分離出來,從而減少產(chǎn)品電路的客戶失效反饋;本發(fā)明對分離出來的各功能模塊失效電路再次進(jìn)行分離,并結(jié)合上位機(jī)實(shí)時(shí)觀察通信數(shù)據(jù),便于設(shè)計(jì)人員對電路的分析調(diào)試,大大節(jié)省了研發(fā)時(shí)間和研發(fā)成本。
聲明:
“用于鼠標(biāo)電路的功能測試系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)