本發(fā)明提供一種電子產(chǎn)品的溫壓雙應(yīng)力小樣本加速試驗(yàn)壽命預(yù)測(cè)方法，其包括以下步驟：1、獲取失效數(shù)據(jù)并進(jìn)行排序，確定失效數(shù)據(jù)所滿(mǎn)足的指數(shù)分布；2、計(jì)算并重新整理每個(gè)應(yīng)力水平下的等效指數(shù)失效時(shí)間數(shù)據(jù)并進(jìn)行排序；3、列出選定的信度水平并計(jì)算分位值；4、獲得選定信度水平下的應(yīng)力?失效時(shí)間函數(shù)；5、獲得選定應(yīng)力水平下的對(duì)數(shù)失效時(shí)間分位值；6、得到參數(shù)的最小二乘估計(jì)值，確定選定應(yīng)力水平下的失效時(shí)間分布。本發(fā)明基于不確定理論通過(guò)矩模型實(shí)現(xiàn)指數(shù)分布參數(shù)估計(jì)，獲取等效指數(shù)失效時(shí)間數(shù)據(jù)，通過(guò)擴(kuò)大樣本數(shù)量實(shí)現(xiàn)指數(shù)分布參數(shù)的修正，提高了小樣本條件下失效時(shí)間預(yù)測(cè)的精確性與收斂度。