本發(fā)明公開了一種基于退化曲線相似度的射頻電路健康度預(yù)測方法，先根據(jù)預(yù)定的退化參數(shù)確定測量的信號(hào)參數(shù)，然后訓(xùn)練得到各個(gè)信號(hào)參數(shù)對應(yīng)的失效臨界態(tài)的隱馬爾可夫模型，將實(shí)際測量的各信號(hào)參數(shù)幅值輸入失效臨界態(tài)隱馬爾可夫模型，計(jì)算得到實(shí)際數(shù)據(jù)對應(yīng)狀態(tài)相對于失效臨界態(tài)的KL值，得到退化參數(shù)的KL值曲線K1，然后擬合得到擬合曲線K2，通過理想退化仿真得到理想退化數(shù)據(jù)KL值的理想曲線K3，根據(jù)到理想曲線K3的歐式距離計(jì)算曲線K1和曲線K2的相似度，計(jì)算參照KL值F0，最后根據(jù)擬合曲線K2計(jì)算得到預(yù)測時(shí)刻的KL值F1，得到健康度，然后根據(jù)相似度得到預(yù)測時(shí)刻的最終預(yù)測健康度。經(jīng)過實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證可知，本發(fā)明可以實(shí)現(xiàn)電子產(chǎn)品健康度的準(zhǔn)確預(yù)測。