差示掃描量熱儀 3164     

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耐馳差示掃描量熱儀DSC214對于日常的 DSC 測試提供了強有力的解決方案，并在硬件與軟件方面作了極大的改進(jìn)。儀器在易于操作的同時提供了的可靠性，使得這款儀器成為包括聚合物工業(yè)在內(nèi)的諸多行業(yè)進(jìn)行產(chǎn)品研發(fā)，質(zhì)量控制與失效分析的理想工具。

洛氏硬度計 2715     

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洛氏硬度計是世界上第一臺依據(jù)洛氏硬度試驗原理設(shè)計的，只需要單側(cè)接觸試樣就可測試金屬硬度的洛氏硬度計，依靠磁力將洛氏硬度計測頭吸附在鋼鐵表面，不需要對試樣進(jìn)行支撐，測試精度符合標(biāo)準(zhǔn)GB/T230、ISO6508，不低于臺式洛氏硬度計。利用磁力吸盤將硬度計固定在鋼鐵工件表面，無需支撐，無需取樣，不用移動 工件，只要單側(cè)接觸即可完成測試。

數(shù)顯顯微維氏硬度計 2223     

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HVS-50型數(shù)顯維氏硬度計是光機電一體化的高新技術(shù)產(chǎn)品，具有良好的可靠性，可操作性，是小負(fù)荷維氏硬度計的升級換代產(chǎn)品。

Alphacen型-樣品原子力顯微鏡 2600     

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Alphacen型-樣品原子力顯微鏡

Flex- Mount型-大樣品原子力顯微鏡 1790     

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Flex- Mount型-大樣品原子力顯微鏡

Naniteafm型-原子力顯微鏡 1820     

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Naniteafm型-原子力顯微鏡

Flex-Aiom型-原子力顯微鏡 1869     

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Flex-Aiom型-原子力顯微鏡

軟磁材料動態(tài)測量裝置 2236     

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MATS-30105A軟磁材料動態(tài)測量裝置可準(zhǔn)確測量軟磁材料在1k-350k頻率范圍內(nèi)的Ps、Bm、Hm、Ss、μa、交流磁化曲線和損耗曲線。

X射線熒光光譜儀 3395     

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ARL ADVANT X 是一臺靈活、高性能的順序式 XRF 光譜儀，可分析周期表中多達(dá)84種元素?？蛇x四種功率（從 1200W 至 4200W ），不僅能優(yōu)化性能還可優(yōu)化日常和苛刻應(yīng)用的操作成本。X 射線熒光光譜儀 （XRF） 分析是一項應(yīng)用廣泛的分析技術(shù)，可利用簡易的樣品制備和無損分析，對各種固體和液體樣品進(jìn)行元素分析。

X射線光電子能譜儀 2761     

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ESCALAB 250XI X射線光電子能譜儀是一臺多功能高性能的表面分析儀器，它可以用于研究各種固體材料樣品表面（1-10NM厚度）的元素種類、化學(xué)價態(tài)以及相對含量。結(jié)合離子刻蝕技術(shù)還可以獲得元素及化學(xué)態(tài)深度分布信息；通過成像技術(shù)可以獲得元素及化學(xué)態(tài)的面分布信息；利用微聚焦X射線源或電子束可以獲得微區(qū)表面信息。

電子探針顯微鏡（EPMA） 3434     

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日本電子 JXA-8230電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。日本電子新開發(fā)出的EPMA （電子探針）秉承近半個世紀(jì)的EPMA的發(fā)展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析，這是JEOL長年來對高可靠性硬件不斷改良的結(jié)果。JXA-8230電子探針是能完全滿足多種需求的強力分析工具之一。

激光粒度儀（粒度/zeta） 2175     

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ZETASIZER NANO ZS90 ZETA電位分析儀是一款高性價比的分子/粒度和ZETA電位分析儀。使用動態(tài)光散射以90度散射角測量顆粒和分子粒度，具有使用激光多普勒微電泳測量ZETA電位和電泳遷移率的能力，以及使用靜態(tài)光散射測量分子量。動態(tài)光散射檢測由于顆粒布朗運動而產(chǎn)生的散射光的波動隨時間的變化。檢測器將散射光信號轉(zhuǎn)化為電流信號，再通過數(shù)字相關(guān)器的運算處理，得到顆粒在溶液中擴散的速度信息，即擴散系數(shù)。通過STOCKES-EINSTEIN方程可以得到粒徑大小及其分布。

等離子聚焦離子束系統(tǒng) 2423     

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蔡司雙束電鏡CROSSBEAM系列，是專為高通量3D分析和樣品加工制備量身打造的FIB-SEM雙束電鏡。CROSSBEAM系列將場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)鏡筒強大的成像和分析性能與全新一代聚焦離子束(FIB)出色的加工能力相結(jié)合。無論是加工、成像或進(jìn)行3D分析，都能在不損失精度的前提下，提高聚焦離子束的應(yīng)用效率。

X射線衍射儀 2695     

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X射線衍射儀，采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計，通過TWIN-TWIN光路設(shè)計，成功實現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術(shù)，使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應(yīng)用（常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點光源應(yīng)用（織構(gòu)、應(yīng)力、微區(qū)）的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史！

拉曼光譜儀 2439     

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拉曼光譜儀是測定分子振動光譜的儀器，可用于有機化合物、無機化合物、高分子聚合物、生物膜等各種材料的結(jié)構(gòu)特性分析。采用共焦光路設(shè)計，研究物質(zhì)成分的判定與確認(rèn)；與紅外光譜互補， 是分析物質(zhì)組分、結(jié)構(gòu)等的光譜分析手段之一。

核磁共振儀 4153     

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核磁共振儀主要用于有機化合物、生物蛋白質(zhì)分子的結(jié)構(gòu)確證、鑒定或結(jié)構(gòu)、空間的構(gòu)型分析。能對多種復(fù)雜分子如有機化合物、合成高分子、金屬有機化合物及絡(luò)合物等進(jìn)行結(jié)構(gòu)分析。該儀器是化學(xué)、物理學(xué)以及生命科學(xué)等多學(xué)科研究物質(zhì)成分、結(jié)構(gòu)和動態(tài)強有力的常規(guī)工具。

場發(fā)射掃描電子顯微鏡 3232     

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日立場發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8020采用日立技術(shù)公司全新開發(fā)的冷場電子槍，實現(xiàn)超高分辨率下觀察的同時，穩(wěn)定的束流亦可滿足長時間下的分析需求。是利用二次電子和背散射電子信號，通過真空系統(tǒng)、電子束系統(tǒng)和成像系統(tǒng)獲取被測樣品本身的各種物理、化學(xué)性質(zhì)的信息，如形貌、組成、晶體結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)和內(nèi)部電場或磁場等的一種分析儀器。

有機元素分析儀 2432     

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VARIO EL CUBE動態(tài)范圍寬，允許樣品的測量范圍從低微克級到數(shù)十毫克。樣品類型從純有機材料（如汽油）到有機含量極低的沉積物皆可。即使是含氟樣品也能耐受。結(jié)合其出色的精度，VARIO EL CUBE為各種樣品類型提供靈活可靠的解決方案。VARIO EL CUBE對氫元素的檢測也能獲得高精度。通過一個可靠的熱導(dǎo)檢測器，避免了紅外檢測H2O可能會遇到干擾物和精度不準(zhǔn)等問題。

原子力顯微鏡 2983     

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DIMENSION ICON 可以實現(xiàn)所有主要的掃描探針成像技術(shù)，其測試樣品尺寸可達(dá)：直徑210MM，厚度15MM。溫度補償位置傳感器使Z-軸和X-Y軸的噪音分別保持在亞-埃級和埃級水平。對于大樣品、90微米掃描范圍的系統(tǒng)來說，這種噪音水平超越了所有的開環(huán)掃描高分辨率的原子力顯微鏡。全新的XYZ閉環(huán)掃描頭在不損失圖像質(zhì)量的前提下大大提高了掃描速度。

EBSD背散射 2207     

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EBSD——電子背散射衍射儀——是一種強大的微觀分析儀器，它能精密的分析和表征晶態(tài)材料的微觀組織和性能，提高速度和數(shù)據(jù)質(zhì)量。 SYMMETRY是牛津儀器公司基于CMOS技術(shù)發(fā)展的全新一代EBSD探測器，擁有空前的性能和易用性。

場發(fā)射透射電子顯微鏡 3149     

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TECNAI G2 F20透射電子顯微鏡是一個多功能、多用戶環(huán)境的200KV場發(fā)射透射電子顯微鏡。該儀器配備了STEM、EDX、HADF、CCD等附件，能采集TEM明場、暗場像和髙分辨像，能進(jìn)行選區(qū)電子衍射，能進(jìn)行EDX能譜分析和髙分辨STEM原子序數(shù)像的分析，STEM結(jié)合EⅨ點、線掃描的可以進(jìn)行微區(qū)能譜分析。

霍普金森壓桿 3415     

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本套Hopkinson 壓桿系統(tǒng)主要包含三部分：支架部分、壓桿主體部分、數(shù)據(jù)采集部分，其示意圖如下所示。其中支架部分是用來支撐固定壓桿部分并且保證壓桿的水平，為了保證系統(tǒng)的水平度及剛度，該部分采用整體鋁板制作而成 。壓桿主體部分包括炮管、撞擊桿、入射桿、透射桿、能量吸收器以及相應(yīng)的氣壓裝置等等。而數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)則是由粘貼在桿子上的應(yīng)變片，惠斯通橋路（應(yīng)變片接線橋盒），超動態(tài)應(yīng)變儀以及高速采集系統(tǒng)：

高低周頻疲勞試驗機/ 1000Hz 超高頻疲勞試驗機 2047     

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高低周頻疲勞試驗機為金屬材料、有色金屬材料、金屬復(fù)合材料及部分非金屬玻纖材料的疲勞性能測試分析。包含：金屬棒材試樣、金屬板材試樣及其零部件的疲勞壽命測試、有色金屬CT 試樣（緊湊拉伸）的裂紋擴展試驗及裂紋擴展速率(da/DN）的測試，具有分析金屬材料的疲勞極限和自動生成S_N曲線功能。

表面能分析儀（iGC-SEA） 3111     

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司邁實科技（北京）有限公司的表面能分析儀為英國原裝進(jìn)口產(chǎn)品，是 SMS 公司首創(chuàng)的反氣相色譜設(shè)備。它是用來表征粉末、顆粒、纖維、薄膜等固體材料表面特性的氣相技術(shù)。表面能分析儀原理非常簡單，與傳統(tǒng)的氣相色譜（GC）實驗相反。將需要研究的固體材料均勻地填充進(jìn)色譜柱中，通常是粉末，纖維或薄膜。然后以固定的載氣流速將恒定濃度的氣體脈沖向下注入柱子，并且通過火焰離子檢測器檢測洗脫時間。然后，使用不同的氣相分子探針，通過一系列的溶劑注射，獲得固體樣品的各種物理化學(xué)性質(zhì)。

熱流法導(dǎo)熱儀 HFM 446 Lambda 5133     

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德國耐馳公司全新推出的熱流法導(dǎo)熱儀 HFM 446 Lambda，為導(dǎo)熱系數(shù)的測量建立了新的標(biāo)準(zhǔn)化方法，可應(yīng)用于研究開發(fā)與質(zhì)量控制領(lǐng)域。其適用的行業(yè)與材料，包括膨脹聚苯乙烯（EPS），擠出聚苯乙烯（XPS），PU 堅硬泡沫，礦物棉，膨脹珍珠巖，泡沫玻璃，軟木塞，羊毛，天然纖維材料，包含相變材料、氣凝膠、混凝土、石膏或聚合物的建筑材料，等等。

絕熱加速量熱儀 ARC 254 5717     

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ARC254 的*快絕熱跟蹤速率高達(dá) 200K/min，由此可提供更寬廣的應(yīng)用范圍與更可靠的數(shù)據(jù)。 使用**VariPhi? 技術(shù)，可以完全或部分補償樣品容器的熱慣性，即使僅使用少而an全的樣品量級，也可以實現(xiàn)低Φ值下的測試。這一功能另可用于類似DSC的掃描量熱，檢測樣品的放熱、吸熱轉(zhuǎn)變以及比熱。

熱機械分析儀 TMA 402 F1/F3 Hyperion? 4534     

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TMA402F1/F3 Hyperion? 為耐馳公司*新推出的熱機械分析儀，可以有效地分析樣品在一定負(fù)載下的熱機械/熱膨脹特性。*大樣品長度30mm，*大作用力 3N。內(nèi)置的高精度力傳感器保證了 mN 范圍的精que可控的作用力。

熱機械分析儀TMA 4000 SE 3058     

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TMA 4000 SE 為耐馳公司*新推出的另一款熱機械分析儀，可以you效地分析樣品在一定負(fù)載下的熱機械/熱膨脹特性。

熱膨脹儀DIL 402 Expedis Classic 3986     

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耐馳公司新款熱膨脹儀 DIL 402 Expedis Classic 集成了熱膨脹測量領(lǐng)域技術(shù)，為寬廣應(yīng)用領(lǐng)域內(nèi)的應(yīng)用而設(shè)計。DIL Expedis 系列的所有型號均基于 NanoEye 測量系統(tǒng)，在測量范圍與精度兩方面達(dá)到了新的高度。

激光法導(dǎo)熱儀 LFA 457 MicroFlash? 3360     

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NETZSCH LFA 457 MicroFlash? 儀器為桌上型，溫度范圍 -125 ... 1100°C。為了覆蓋這一溫度范圍，提供了兩種可自由切換的爐體。 系統(tǒng)所使用的全新的紅外傳感器技術(shù)使得用戶甚至可以在 -125°C 的低溫下測量樣品背部的溫升曲線。 儀器既可使用內(nèi)置的自動樣品切換器在一次升溫中對多個較小的樣品進(jìn)行測量，也可單獨測量較大的樣品（*大直徑 25.4mm）。 真空密閉系統(tǒng)使得儀器可以在多種用戶可選的氣氛中進(jìn)行測量。 樣品支架、爐體與檢測器的垂直式排布方便了樣品的放置與更換，同時使得檢測信號擁有*佳的信噪比。 LFA 457 是強大與靈活