儀器簡介

X射線衍射儀主要測試功能包括X射線粉末衍射、掠入射衍射及高溫(~1200℃)條件下的X射線衍射，能夠提供粉末、塊狀、液態(tài)的多晶樣品的常規(guī)物相分析和半定量分析，晶胞參數(shù)的測定、修正、未知多晶樣品的X射線衍射指標化、晶粒尺寸和結(jié)晶度測定。還可對材料的殘余應(yīng)力、織構(gòu)及薄膜反射率進行測試和分析。配備的LynxEye XE陣列探測器共由192個子探測器陣列組成，具有優(yōu)異的分辨率及信噪比;探測效率是普通閃爍探測器的10倍以上，普通樣品可在7分鐘左右測試完成;具有優(yōu)異的能量分辨率，無需單色器，即可有效去除含鐵樣品的熒光。步進馬達加光學(xué)編碼精密測角儀可使角度重現(xiàn)性達到±0.0001°，是目前最高精度的測角儀。

性能指標

工作功率：1.6kW(40kV，40mA)

靶材：銅靶、鈷靶

探測器：LynxEye XE陣列探測器

掃描范圍：0°～140 °

測角儀精度：0.0001° 準確度≤0.02°

測試溫度：室溫～ 1200℃

多功能樣品臺：標準樣品臺、尤拉環(huán)樣品臺、高溫樣品臺

測試項目

X射線粉末衍射X射線掠入射衍射高溫X射線衍射(室溫~1200℃)應(yīng)力測試織構(gòu)測試

樣品要求

塊狀樣品標準尺寸：10*10*1mm (厚度最多不要超過12mm)要求樣品表面平整粉末樣品要求顆粒不超過400目