權(quán)利要求書： 1.一種雷蒙磨出粉粒度自動調(diào)節(jié)系統(tǒng)，其特征在于，包括粒度分析儀、雷蒙磨、輔助裝置、PLC和計(jì)算機(jī)；其中雷蒙磨包括主機(jī)、分級器、鼓風(fēng)機(jī)、成品旋風(fēng)分離器、管道裝置和電機(jī)；分級器包括調(diào)速電機(jī)、轉(zhuǎn)盤和葉片，用于控制磨粉細(xì)度；輔助裝置包括顎式破碎機(jī)、畚斗提升機(jī)、電磁振動給料機(jī)和電控柜。

2.一種雷蒙磨出粉粒度自動調(diào)節(jié)系統(tǒng)，其特征在于，所述粒度分析儀采用激光衍射法測試粒徑，定時自動測量干粉流基于體積的粒度分布，測量數(shù)據(jù)自動傳送到計(jì)算機(jī)，在計(jì)算機(jī)根據(jù)設(shè)定的粒度區(qū)間，生成實(shí)測粒度分布數(shù)據(jù)，全自動采樣；對超高密相的大型工藝管線，增加螺旋輸送器以保證取樣均勻性。

3.根據(jù)權(quán)利要求1?2任一項(xiàng)所述的一種雷蒙磨出粉粒度自動調(diào)節(jié)方法，其特征在于，包括以下步驟：S1、粒度分析儀測量雷蒙磨出口粒子的粒徑分布數(shù)據(jù)，發(fā)送到計(jì)算機(jī)；

S2、計(jì)算機(jī)分析粒徑分布數(shù)據(jù)，將實(shí)際數(shù)值與標(biāo)準(zhǔn)值對比，根據(jù)比較結(jié)果，若偏移量在允許范圍內(nèi)，不作處理；若偏移量超出允許誤差值，計(jì)算機(jī)上的粒度控制平臺根據(jù)事先設(shè)定的糾正規(guī)則計(jì)算粒度糾正的方向和幅度，得出相應(yīng)的雷蒙磨分級器電機(jī)調(diào)整操作命令；

S3、發(fā)送調(diào)整命令到PLC；PLC根據(jù)收到的命令，發(fā)出分級器電機(jī)調(diào)整信號，調(diào)整分級器電機(jī)的轉(zhuǎn)速，從而控制分級器葉輪轉(zhuǎn)速，改變磨粉粒度。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種雷蒙磨出粉粒度自動調(diào)節(jié)方法，其特征在于，當(dāng)雷蒙磨出粉粒度的需求改變時，在計(jì)算機(jī)上修改出粉粒度標(biāo)準(zhǔn)值。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種雷蒙磨出粉粒度自動調(diào)節(jié)方法，其特征在于，所述S2中的糾正規(guī)則設(shè)定如下：(1)預(yù)設(shè)規(guī)則：粒徑分布標(biāo)準(zhǔn)值為一組數(shù)據(jù)，即將粒度分布分為若干區(qū)間，區(qū)間從左到右按粒度從小到大排列，即左邊的粒度小，右邊的粒度大，設(shè)定每個區(qū)間的標(biāo)準(zhǔn)粒度占比；

將粒度分布區(qū)間分為3大區(qū)塊，選定若干個區(qū)間為主區(qū)塊(一般為中間的區(qū)間)，左邊細(xì)粒度區(qū)塊，中間主區(qū)塊，右邊大粒度區(qū)塊；

(2)計(jì)算機(jī)接收到粒度分析儀測量的數(shù)據(jù)后，將數(shù)據(jù)按粒度區(qū)間分區(qū)，并生成區(qū)間粒度占比測量值；

(3)測量值與標(biāo)準(zhǔn)值比較時，依次比較各對應(yīng)區(qū)間粒度占比的數(shù)值，若該區(qū)間的測量值大于標(biāo)準(zhǔn)值，則該區(qū)間比較結(jié)果標(biāo)為1，表示該粒度區(qū)間占比增加；測量值與標(biāo)準(zhǔn)值的偏差在允許范圍內(nèi)，則該區(qū)間比較結(jié)果標(biāo)為0，表示該區(qū)間占比沒變；測量數(shù)值小于標(biāo)準(zhǔn)值，則該區(qū)間比較結(jié)果標(biāo)為?1，表示該區(qū)間占比減少；

(4)分別計(jì)算各大區(qū)塊的總比較結(jié)果Z，即各區(qū)塊將自己區(qū)塊內(nèi)的區(qū)間比較結(jié)果相加，得到匯總結(jié)果Z左、Z中、Z右；

S4、結(jié)果分析：Z左＝0，Z中＝0，Z右＝0，沒有超出允許范圍的偏差，不需要動作；

Z左>0，Z右<0，細(xì)粒粉占比偏大，應(yīng)降低電機(jī)轉(zhuǎn)速；

Z左<0，Z右>0，大粒粉占比偏大，應(yīng)提高轉(zhuǎn)速；

Z左>0，Z中<0，Z右>0，細(xì)粒粉和大粒粉占比偏大，中間塊占比偏小，再比較Z左和Z右，若Z左>Z右，表示細(xì)粒粉離標(biāo)準(zhǔn)值的偏差比大粒粉大，應(yīng)降低電機(jī)轉(zhuǎn)速，減少細(xì)粒粉；若Z左

Z左<0，Z中>0，Z右<0，細(xì)粒粉和大粒粉占比偏小，中間塊占比偏大，再比較|Z左|和|Z右|，若|Z左|>|Z右|，表示細(xì)粒粉離標(biāo)準(zhǔn)值的偏差比大粒粉大，應(yīng)提高電機(jī)轉(zhuǎn)速，增加細(xì)粒粉；

若|Z左|<|Z右|，表示大粒粉離標(biāo)準(zhǔn)值的偏差比細(xì)粒粉大，應(yīng)降低電機(jī)轉(zhuǎn)速，增加大粒粉。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種雷蒙磨出粉粒度自動調(diào)節(jié)方法，其特征在于，所述(1)是預(yù)設(shè)規(guī)則，當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)沒有改變時，不需要每次設(shè)置和讀取數(shù)據(jù)；每次測量出口粒度分布和分析數(shù)據(jù)時，按S1?S4的步驟計(jì)算結(jié)果。

7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種雷蒙磨出粉粒度自動調(diào)節(jié)方法，其特征在于，上述調(diào)整方向確定后，調(diào)整幅度的計(jì)算有兩種方式，第一種方式是不管偏差大小，按最小幅度調(diào)整，調(diào)整后再次測量輸出粉末粒度，根據(jù)粒度再次調(diào)整，逐漸修正到標(biāo)準(zhǔn)值允許偏差范圍內(nèi)；第二種方式是根據(jù)偏差大小，計(jì)算調(diào)整幅度，調(diào)整電機(jī)轉(zhuǎn)速。

8.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種雷蒙磨出粉粒度自動調(diào)節(jié)方法，其特征在于，異常處理時，按區(qū)間設(shè)定異常偏差允許范圍，設(shè)異常偏差上限為該區(qū)間標(biāo)準(zhǔn)值的百分比p1(單位％)，下限為該區(qū)間標(biāo)準(zhǔn)值的百分比p2(單位％)，測量值與標(biāo)準(zhǔn)值比較時，若偏差超過異常偏差允許范圍，即測量值>標(biāo)準(zhǔn)值*(1+p1)或者測量值<標(biāo)準(zhǔn)值*(1?p2)，則該數(shù)據(jù)作為異常被記錄下來，加入該區(qū)間的異常序列；每加入一個新異常數(shù)據(jù)，判斷是否在規(guī)定時間段內(nèi)該區(qū)間異常次數(shù)達(dá)到設(shè)定次數(shù)m，如果是，則在計(jì)算機(jī)中提示報警。

說明書： 一種雷蒙磨出粉粒度自動調(diào)節(jié)系統(tǒng)及其調(diào)節(jié)方法技術(shù)領(lǐng)域[0001] 本發(fā)明涉及雷蒙磨技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種雷蒙磨出粉粒度自動調(diào)節(jié)系統(tǒng)及其調(diào)節(jié)方法。背景技術(shù)[0002] 雷蒙磨作為一種綜合性連續(xù)生產(chǎn)量大、單位電耗較小、粉碎比大、粒度均勻且易控制的粉碎機(jī)械，在預(yù)焙陽極生產(chǎn)中廣泛使用。[0003] 雷蒙磨工作原理是將大塊狀原材料破碎到所需的進(jìn)料粒度后，由斗式提升機(jī)將物料輸送到儲料倉，然后由電磁給料機(jī)送到主機(jī)的磨腔內(nèi)，磨輥在離心力作用下緊緊地滾壓在磨環(huán)上，由鏟刀鏟起物料送到磨輥和磨環(huán)中間，物料在碾壓力的作用下破碎成粉，然后在風(fēng)機(jī)的作用下把成粉的物料吹起來經(jīng)過分級器分級，達(dá)到細(xì)度要求的物料通過分級器，達(dá)不到要求的重回磨腔繼續(xù)研磨，通過分級器的物料經(jīng)旋風(fēng)分離器分離收集，再經(jīng)卸料器排出即為成品。[0004] 分級器通過調(diào)速電機(jī)并經(jīng)二級減速帶動轉(zhuǎn)盤上的葉片旋轉(zhuǎn)，形成對粉子的分級作用。雷蒙磨按需要的成品粉子粒度大小設(shè)置葉片轉(zhuǎn)速的快慢。改變?nèi)~輪轉(zhuǎn)速可改變磨粉細(xì)度，轉(zhuǎn)速越高，細(xì)度越小。當(dāng)要獲得較細(xì)粒子時，就必須提高葉片的轉(zhuǎn)速，使葉子與粉子接觸增加，不合要求的粉子被葉片拋向內(nèi)壁與氣流脫離，粗粒子因自重力的作用落入磨室進(jìn)行重磨，合格的粉子通過葉片隨氣流吸入旋風(fēng)分離器內(nèi)，氣流與粉子分離后，粉子被收集。因此，對于物料強(qiáng)度較差，細(xì)料較多的粉料在磨粉過程中需適當(dāng)降低葉輪轉(zhuǎn)速，而物料強(qiáng)度大、細(xì)料少的粉料則需適當(dāng)增大葉輪轉(zhuǎn)速。[0005] 生產(chǎn)粉料的雷蒙磨設(shè)備的穩(wěn)定運(yùn)行和工人的熟練操作對粉子粒度的穩(wěn)定控制起到非常重要的作用。當(dāng)前，雷蒙磨采用人工在出料口取樣，檢測粒度分布后，人工操作分級器電機(jī)的方式調(diào)整出口粉子粒度，通過生產(chǎn)實(shí)踐調(diào)查發(fā)現(xiàn)，磨粉設(shè)備的運(yùn)行情況受崗位操作人員的操作技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)程度以及物料性質(zhì)、物料粒度狀況影響較大，同時，上述方式有一定的滯后性，不能及時調(diào)整出粉粒度，因此，加強(qiáng)改進(jìn)磨粉設(shè)備的操作控制，是穩(wěn)定粉子質(zhì)量的必要措施。[0006] 及時調(diào)整雷蒙磨控制參數(shù)，避免雷蒙磨出口粉子粒度波動過大，減少人工操作的不確定性，加強(qiáng)改進(jìn)磨粉設(shè)備的自動化操作，是本發(fā)明將要解決的問題。發(fā)明內(nèi)容[0007] 為了解決上述問題，本發(fā)明提出一種雷蒙磨出粉粒度自動調(diào)節(jié)系統(tǒng)及其調(diào)節(jié)方法，以更加確切地解決了上述背景技術(shù)中所提出的問題。[0008] 本發(fā)明通過以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的：[0009] 發(fā)明提出一種雷蒙磨出粉粒度自動調(diào)節(jié)系統(tǒng)，包括粒度分析儀、雷蒙磨、輔助裝置、PLC和計(jì)算機(jī)；其中雷蒙磨包括主機(jī)、分級器、鼓風(fēng)機(jī)、成品旋風(fēng)分離器、管道裝置和電機(jī)；分級器包括調(diào)速電機(jī)、轉(zhuǎn)盤和葉片，用于控制磨粉細(xì)度；輔助裝置包括顎式破碎機(jī)、畚斗提升機(jī)、電磁振動給料機(jī)和電控柜。[0010] 進(jìn)一步地，所述粒度分析儀采用激光衍射法測試粒徑，定時自動測量干粉流基于體積的粒度分布，測量數(shù)據(jù)自動傳送到計(jì)算機(jī)，在計(jì)算機(jī)根據(jù)設(shè)定的粒度區(qū)間，生成實(shí)測粒度分布數(shù)據(jù)，全自動采樣；對超高密相的大型工藝管線，增加螺旋輸送器以保證取樣均勻性。[0011] 進(jìn)一步地，還提供一種雷蒙磨出粉粒度自動調(diào)節(jié)方法，包括以下步驟：[0012] S1、粒度分析儀測量雷蒙磨出口粒子的粒徑分布數(shù)據(jù)，發(fā)送到計(jì)算機(jī)；[0013] S2、計(jì)算機(jī)分析粒徑分布數(shù)據(jù)，將實(shí)際數(shù)值與標(biāo)準(zhǔn)值對比，根據(jù)比較結(jié)果，若偏移量在允許范圍內(nèi)，不作處理；若偏移量超出允許誤差值，計(jì)算機(jī)上的粒度控制平臺根據(jù)事先設(shè)定的糾正規(guī)則計(jì)算粒度糾正的方向和幅度，得出相應(yīng)的雷蒙磨分級器電機(jī)調(diào)整操作命令；[0014] S3、發(fā)送調(diào)整命令到PLC；PLC根據(jù)收到的命令，發(fā)出分級器電機(jī)調(diào)整信號，調(diào)整分級器電機(jī)的轉(zhuǎn)速，從而控制分級器葉輪轉(zhuǎn)速，改變磨粉粒度。[0015] 進(jìn)一步地，當(dāng)雷蒙磨出粉粒度的需求改變時，在計(jì)算機(jī)上修改出粉粒度標(biāo)準(zhǔn)值。[0016] 進(jìn)一步地，所述S2中的糾正規(guī)則設(shè)定如下：[0017] (1)預(yù)設(shè)規(guī)則：粒徑分布標(biāo)準(zhǔn)值為一組數(shù)據(jù)，即將粒度分布分為若干區(qū)間，區(qū)間從左到右按粒度從小到大排列，即左邊的粒度小，右邊的粒度大，設(shè)定每個區(qū)間的標(biāo)準(zhǔn)粒度占比；將粒度分布區(qū)間分為3大區(qū)塊，選定若干個區(qū)間為主區(qū)塊(一般為中間的區(qū)間)，左邊細(xì)粒度區(qū)塊，中間主區(qū)塊，右邊大粒度區(qū)塊；[0018] (2)計(jì)算機(jī)接收到粒度分析儀測量的數(shù)據(jù)后，將數(shù)據(jù)按粒度區(qū)間分區(qū)，并生成區(qū)間粒度占比測量值；[0019] (3)測量值與標(biāo)準(zhǔn)值比較時，依次比較各對應(yīng)區(qū)間粒度占比的數(shù)值，若該區(qū)間的測量值大于標(biāo)準(zhǔn)值，則該區(qū)間比較結(jié)果標(biāo)為1，表示該粒度區(qū)間占比增加；測量值與標(biāo)準(zhǔn)值的偏差在允許范圍內(nèi)，則該區(qū)間比較結(jié)果標(biāo)為0，表示該區(qū)間占比沒變；測量數(shù)值小于標(biāo)準(zhǔn)值，則該區(qū)間比較結(jié)果標(biāo)為?1，表示該區(qū)間占比減少；[0020] (4)分別計(jì)算各大區(qū)塊的總比較結(jié)果Z，即各區(qū)塊將自己區(qū)塊內(nèi)的區(qū)間比較結(jié)果相加，得到匯總結(jié)果Z左、Z中、Z右；[0021] S4、結(jié)果分析：Z左＝0，Z中＝0，Z右＝0，沒有超出允許范圍的偏差，不需要動作；[0022] Z左>0，Z右<0，細(xì)粒粉占比偏大，應(yīng)降低電機(jī)轉(zhuǎn)速；[0023] Z左<0，Z右>0，大粒粉占比偏大，應(yīng)提高轉(zhuǎn)速；[0024] Z左>0，Z中<0，Z右>0，細(xì)粒粉和大粒粉占比偏大，中間塊占比偏小，再比較Z左和Z右，若Z左>Z右，表示細(xì)粒粉離標(biāo)準(zhǔn)值的偏差比大粒粉大，應(yīng)降低電機(jī)轉(zhuǎn)速，減少細(xì)粒粉；若Z左[0025] Z左<0，Z中>0，Z右<0，細(xì)粒粉和大粒粉占比偏小，中間塊占比偏大，再比較|Z左|和|Z右|，若|Z左|>|Z右|，表示細(xì)粒粉離標(biāo)準(zhǔn)值的偏差比大粒粉大，應(yīng)提高電機(jī)轉(zhuǎn)速，增加細(xì)粒粉；若|Z左|<|Z右|，表示大粒粉離標(biāo)準(zhǔn)值的偏差比細(xì)粒粉大，應(yīng)降低電機(jī)轉(zhuǎn)速，增加大粒粉。[0026] 進(jìn)一步地，所述(1)是預(yù)設(shè)規(guī)則，當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)沒有改變時，不需要每次設(shè)置和讀取數(shù)據(jù)；每次測量出口粒度分布和分析數(shù)據(jù)時，按S1?S4的步驟計(jì)算結(jié)果。

[0027] 進(jìn)一步地，上述調(diào)整方向確定后，調(diào)整幅度的計(jì)算有兩種方式，第一種方式是不管偏差大小，按最小幅度調(diào)整，調(diào)整后再次測量輸出粉末粒度，根據(jù)粒度再次調(diào)整，逐漸修正到標(biāo)準(zhǔn)值允許偏差范圍內(nèi)；第二種方式是根據(jù)偏差大小，計(jì)算調(diào)整幅度，調(diào)整電機(jī)轉(zhuǎn)速。[0028] 進(jìn)一步地，異常處理時，按區(qū)間設(shè)定異常偏差允許范圍，設(shè)異常偏差上限為該區(qū)間標(biāo)準(zhǔn)值的百分比p1(單位％)，下限為該區(qū)間標(biāo)準(zhǔn)值的百分比p2(單位％)，測量值與標(biāo)準(zhǔn)值比較時，若偏差超過異常偏差允許范圍，即測量值>標(biāo)準(zhǔn)值*(1+p1)或者測量值<標(biāo)準(zhǔn)值*(1?p2)，則該數(shù)據(jù)作為異常被記錄下來，加入該區(qū)間的異常序列；每加入一個新異常數(shù)據(jù)，判斷是否在規(guī)定時間段內(nèi)該區(qū)間異常次數(shù)達(dá)到設(shè)定次數(shù)m，如果是，則在計(jì)算機(jī)中提示報警。[0029] 本發(fā)明的有益效果：[0030] 本發(fā)明穩(wěn)定了出料口產(chǎn)品質(zhì)量，并提高了雷蒙磨的性能，使其能夠成功運(yùn)行更長的時間，同時減少了手動輸入，控制器的利用率在95％以上，工藝過程優(yōu)化。粒度分析儀測量具有非破壞性、快速的優(yōu)點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)了測量的完全自動化，可連續(xù)測量，并完成實(shí)時粒度數(shù)據(jù)傳輸；系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了連續(xù)質(zhì)量控制和監(jiān)測，減少了出粉粒度變異，提高了運(yùn)行的穩(wěn)定性，確保磨機(jī)的運(yùn)行更接近目標(biāo)值，出口粒度分布穩(wěn)定使產(chǎn)品質(zhì)量穩(wěn)定，減少了批次間差異，提高了產(chǎn)品質(zhì)量，雷蒙磨產(chǎn)量更高，電機(jī)功耗更低，達(dá)到優(yōu)化的目標(biāo)。附圖說明[0031] 圖1為本發(fā)明一種實(shí)施例雷蒙磨分級器出粉細(xì)度自動調(diào)節(jié)系統(tǒng)圖。[0032] 圖中：1、分級器；11、分級器電機(jī)；12、葉片；2、粒度分析儀；3、PLC；4、計(jì)算機(jī)。具體實(shí)施方式[0033] 為了更加清楚完整的說明本發(fā)明的技術(shù)方案，下面結(jié)合附圖對本發(fā)明作進(jìn)一步說明。[0034] 實(shí)施例[0035] 如圖1所示，本發(fā)明一個實(shí)施例提出的一種雷蒙磨出粉粒度自動調(diào)節(jié)系統(tǒng)，包括粒度分析儀、雷蒙磨、輔助裝置、PLC和計(jì)算機(jī)；其中雷蒙磨包括主機(jī)、分級器、鼓風(fēng)機(jī)、成品旋風(fēng)分離器、管道裝置和電機(jī)；分級器包括調(diào)速電機(jī)、轉(zhuǎn)盤和葉片，用于控制磨粉細(xì)度；輔助裝置包括顎式破碎機(jī)、畚斗提升機(jī)、電磁振動給料機(jī)和電控柜，所述粒度分析儀采用激光衍射法測試粒徑，定時自動測量干粉流基于體積的粒度分布，測量數(shù)據(jù)自動傳送到計(jì)算機(jī)，在計(jì)算機(jī)根據(jù)設(shè)定的粒度區(qū)間，生成實(shí)測粒度分布數(shù)據(jù)，全自動采樣；對超高密相的大型工藝管線，增加螺旋輸送器以保證取樣均勻性，采用本系統(tǒng)，當(dāng)雷蒙磨出粉粒度出現(xiàn)偏差時，可以實(shí)時自動校正出粉粒度；或者，當(dāng)雷蒙磨出粉粒度的需求改變時，在計(jì)算機(jī)上修改出粉粒度標(biāo)準(zhǔn)值，可以自動調(diào)整出粉粒度。[0036] 進(jìn)一步地，還提供一種雷蒙磨出粉粒度自動調(diào)節(jié)方法，包括以下步驟：[0037] S1、粒度分析儀測量雷蒙磨出口粒子的粒徑分布數(shù)據(jù)，發(fā)送到計(jì)算機(jī)；[0038] S2、計(jì)算機(jī)分析粒徑分布數(shù)據(jù)，將實(shí)際數(shù)值與標(biāo)準(zhǔn)值對比，根據(jù)比較結(jié)果，若偏移量在允許范圍內(nèi)，不作處理；若偏移量超出允許誤差值，計(jì)算機(jī)上的粒度控制平臺根據(jù)事先設(shè)定的糾正規(guī)則計(jì)算粒度糾正的方向和幅度，得出相應(yīng)的雷蒙磨分級器電機(jī)調(diào)整操作命令；[0039] S3、發(fā)送調(diào)整命令到PLC；PLC根據(jù)收到的命令，發(fā)出分級器電機(jī)調(diào)整信號，調(diào)整分級器電機(jī)的轉(zhuǎn)速，從而控制分級器葉輪轉(zhuǎn)速，改變磨粉粒度。[0040] 其中，當(dāng)雷蒙磨出粉粒度的需求改變時，在計(jì)算機(jī)上修改出粉粒度標(biāo)準(zhǔn)值，所述S2中的糾正規(guī)則設(shè)定如下：[0041] (1)預(yù)設(shè)規(guī)則：粒徑分布標(biāo)準(zhǔn)值為一組數(shù)據(jù)，即將粒度分布分為若干區(qū)間，區(qū)間從左到右按粒度從小到大排列，即左邊的粒度小，右邊的粒度大，設(shè)定每個區(qū)間的標(biāo)準(zhǔn)粒度占比；將粒度分布區(qū)間分為3大區(qū)塊，選定若干個區(qū)間為主區(qū)塊(一般為中間的區(qū)間)，左邊細(xì)粒度區(qū)塊，中間主區(qū)塊，右邊大粒度區(qū)塊；[0042] (2)計(jì)算機(jī)接收到粒度分析儀測量的數(shù)據(jù)后，將數(shù)據(jù)按粒度區(qū)間分區(qū)，并生成區(qū)間粒度占比測量值；[0043] (3)測量值與標(biāo)準(zhǔn)值比較時，依次比較各對應(yīng)區(qū)間粒度占比的數(shù)值，若該區(qū)間的測量值大于標(biāo)準(zhǔn)值，則該區(qū)間比較結(jié)果標(biāo)為1，表示該粒度區(qū)間占比增加；測量值與標(biāo)準(zhǔn)值的偏差在允許范圍內(nèi)，則該區(qū)間比較結(jié)果標(biāo)為0，表示該區(qū)間占比沒變；測量數(shù)值小于標(biāo)準(zhǔn)值，則該區(qū)間比較結(jié)果標(biāo)為?1，表示該區(qū)間占比減少；[0044] (4)分別計(jì)算各大區(qū)塊的總比較結(jié)果Z，即各區(qū)塊將自己區(qū)塊內(nèi)的區(qū)間比較結(jié)果相加，得到匯總結(jié)果Z左、Z中、Z右；[0045] S4、結(jié)果分析：Z左＝0，Z中＝0，Z右＝0，沒有超出允許范圍的偏差，不需要動作；[0046] Z左>0，Z右<0，細(xì)粒粉占比偏大，應(yīng)降低電機(jī)轉(zhuǎn)速；[0047] Z左<0，Z右>0，大粒粉占比偏大，應(yīng)提高轉(zhuǎn)速；[0048] Z左>0，Z中<0，Z右>0，細(xì)粒粉和大粒粉占比偏大，中間塊占比偏小，再比較Z左和Z右，若Z左>Z右，表示細(xì)粒粉離標(biāo)準(zhǔn)值的偏差比大粒粉大，應(yīng)降低電機(jī)轉(zhuǎn)速，減少細(xì)粒粉；若Z左[0049] Z左<0，Z中>0，Z右<0，細(xì)粒粉和大粒粉占比偏小，中間塊占比偏大，再比較|Z左|和|Z右|，若|Z左|>|Z右|，表示細(xì)粒粉離標(biāo)準(zhǔn)值的偏差比大粒粉大，應(yīng)提高電機(jī)轉(zhuǎn)速，增加細(xì)粒粉；若|Z左|<|Z右|，表示大粒粉離標(biāo)準(zhǔn)值的偏差比細(xì)粒粉大，應(yīng)降低電機(jī)轉(zhuǎn)速，增加大粒粉。[0050] 進(jìn)一步地，所述(1)是預(yù)設(shè)規(guī)則，當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)沒有改變時，不需要每次設(shè)置和讀取數(shù)據(jù)；每次測量出口粒度分布和分析數(shù)據(jù)時，按S1?S4的步驟計(jì)算結(jié)果，上述調(diào)整方向確定后，調(diào)整幅度的計(jì)算有兩種方式，第一種方式是不管偏差大小，按最小幅度調(diào)整，調(diào)整后再次測量輸出粉末粒度，根據(jù)粒度再次調(diào)整，逐漸修正到標(biāo)準(zhǔn)值允許偏差范圍內(nèi)；第二種方式是根據(jù)偏差大小，計(jì)算調(diào)整幅度，調(diào)整電機(jī)轉(zhuǎn)速，異常處理時，按區(qū)間設(shè)定異常偏差允許范圍，設(shè)異常偏差上限為該區(qū)間標(biāo)準(zhǔn)值的百分比p1(單位％)，下限為該區(qū)間標(biāo)準(zhǔn)值的百分比p2(單位％)，測量值與標(biāo)準(zhǔn)值比較時，若偏差超過異常偏差允許范圍，即測量值>標(biāo)準(zhǔn)值*(1+p1)或者測量值<標(biāo)準(zhǔn)值*(1?p2)，則該數(shù)據(jù)作為異常被記錄下來，加入該區(qū)間的異常序列；每加入一個新異常數(shù)據(jù)，判斷是否在規(guī)定時間段內(nèi)該區(qū)間異常次數(shù)達(dá)到設(shè)定次數(shù)m，如果是，則在計(jì)算機(jī)中提示報警。

[0051] 具體實(shí)施例中，糾正規(guī)則允許誤差5％以內(nèi)，粒徑分布標(biāo)準(zhǔn)值和3組數(shù)據(jù)如下表所示：[0052][0053][0054] 具體實(shí)施例1，檢測數(shù)據(jù)和區(qū)間比較結(jié)果、各大區(qū)塊的匯總結(jié)果如表中實(shí)測數(shù)據(jù)1所示。計(jì)算機(jī)計(jì)算結(jié)果顯示Z左>0，Z右<0，即細(xì)粒粉占比偏大，分析結(jié)果給出調(diào)整方向是降低電機(jī)轉(zhuǎn)速；采用第一種調(diào)整幅度的方式，按最小調(diào)整幅度調(diào)整；計(jì)算機(jī)最后給出PLC的調(diào)整命令是電機(jī)轉(zhuǎn)速減1。[0055] 具體實(shí)施例2，檢測數(shù)據(jù)和區(qū)間比較結(jié)果、各大區(qū)塊的匯總結(jié)果如表中實(shí)測數(shù)據(jù)2所示。計(jì)算機(jī)計(jì)算結(jié)果顯示Z左<0，Z右>0，即大粒粉占比偏大，分析結(jié)果給出調(diào)整方向是提高電機(jī)轉(zhuǎn)速；采用第一種調(diào)整幅度的方式，按最小調(diào)整幅度調(diào)整；計(jì)算機(jī)最后給出PLC的調(diào)整命令是電機(jī)轉(zhuǎn)速加1。[0056] 具體實(shí)施例3，檢測數(shù)據(jù)和區(qū)間比較結(jié)果、各大區(qū)塊的匯總結(jié)果如表中實(shí)測數(shù)據(jù)3所示。計(jì)算機(jī)計(jì)算結(jié)果顯示Z左<0，Z中>0，Z右<0，即細(xì)粒粉和大粒粉占比偏小，中間塊占比偏大，再比較|Z左|和|Z右|，結(jié)果是|Z左|<|Z右|，大粒粉離標(biāo)準(zhǔn)值的偏差比細(xì)粒粉大，分析結(jié)果給出調(diào)整方向是降低電機(jī)轉(zhuǎn)速；采用第一種調(diào)整幅度的方式，按最小調(diào)整幅度調(diào)整；計(jì)算機(jī)最后給出PLC的調(diào)整命令是電機(jī)轉(zhuǎn)速減1。[0057] 具體實(shí)施例中，對30?40μm粒度區(qū)間，粒度占比標(biāo)準(zhǔn)值為4％，異常處理設(shè)定異常偏差允許范圍上限p1為90％，下限p2為50％，規(guī)定報警時間段為1分鐘，設(shè)定報警次數(shù)m為10，即在1分鐘內(nèi)異常達(dá)到10次，則在計(jì)算機(jī)中提示報警。測量值與標(biāo)準(zhǔn)值比較時，若測量值>標(biāo)準(zhǔn)值異常上限(4％*(1+90％))或者測量值<標(biāo)準(zhǔn)值異常下限(4％*(1?50％))，則該數(shù)據(jù)作為異常被記錄下來，標(biāo)為1，加入該區(qū)間的異常序列；則每加入一個新異常數(shù)據(jù)，判斷是否在1分鐘內(nèi)該區(qū)間異常次數(shù)達(dá)到10次。下表為30?40μm粒度區(qū)間某一時間段的異常記錄，序號

14的9:32:54的異常，滿足1分鐘內(nèi)異常達(dá)到10次，觸發(fā)報警。

[0058][0059] 具體實(shí)施例中，選用的粒度分析儀采用激光衍射法測試粒徑，通過獲取顆粒的散射模式實(shí)時輸出粒度的分布，在線生成實(shí)時粒度數(shù)據(jù)并傳輸，實(shí)現(xiàn)工藝過程連續(xù)測量。測量精確、連續(xù)，粒度測量范圍0.1?2500μm，系統(tǒng)掃描周期最低可達(dá)250毫秒(可調(diào))，每秒最多可測量4次整體粒度的分布，每年可完成超過百萬次的測量，實(shí)施例中掃描周期為300毫秒，工作壓力小于10bar，溫度10?70℃，濕度35％?80％(不能冷凝)，提供標(biāo)準(zhǔn)的4?20mA信號輸出，OPC、Modbus、Profibus等工業(yè)通訊標(biāo)準(zhǔn)接口，可選擇光纖通訊、網(wǎng)線通訊、本地USB通訊。分析儀采用多重散射修正技術(shù)，樣品遮光度范圍最高可達(dá)95％，完全消除測量時樣品濃度波動對結(jié)果的影響。全自動采樣，無需人工干預(yù)，測量數(shù)據(jù)自動傳送到計(jì)算機(jī)；對超高密相的大型工藝管線(例如水泥廠)，增加螺旋輸送器以保證取樣均勻性。[0060] 雷蒙磨分級器電機(jī)采用三相異步變速電機(jī)，由PLC自動控制。[0061] 本發(fā)明一種雷蒙磨出粉粒度自動調(diào)節(jié)系統(tǒng)，自動測量出粉粒度分布，根據(jù)測量結(jié)果計(jì)算調(diào)整方向和幅度，自動控制電機(jī)轉(zhuǎn)速調(diào)整出粉粒度分布，使出粉粒度分布維持在標(biāo)準(zhǔn)值范圍內(nèi)。除了分級器葉片轉(zhuǎn)速，其他參數(shù)也會對粉料粒度產(chǎn)生影響，本系統(tǒng)不僅可以控制分級器電機(jī)，對其他有關(guān)參數(shù)也可以聯(lián)合控制。同時本系統(tǒng)不僅可以應(yīng)用在雷蒙磨中，在其他磨粉系統(tǒng)中，若可以通過調(diào)節(jié)參數(shù)穩(wěn)定出口粉料粒度分布，且參數(shù)可通過PLC等自動調(diào)節(jié)，也可以應(yīng)用本系統(tǒng)。[0062] 最后應(yīng)說明的是：以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例而已，并不用于限制本發(fā)明，盡管參照前述實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的說明，對于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，其依然可以對前述各實(shí)施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改，或者對其中部分技術(shù)特征進(jìn)行等同替換。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。

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