權(quán)利要求書: 1.一種用于高精度硅片的分選機檢測機構(gòu),其特征在于:包括支架以及設(shè)置在所述支架上的成像裝置和輸送裝置,所述成像裝置包括相機、背光燈,所述相機設(shè)置在所述支架近端,所述背光燈設(shè)置在所述支架遠端,所述輸送裝置設(shè)置在所述相機與所述背光燈之間,所述輸送裝置用于輸送硅片,所述相機對所述硅片進行攝像。
2.如權(quán)利要求1所述的一種用于高精度硅片的分選機檢測機構(gòu),其特征在于:所述成像裝置還包括補光燈,所述補光燈設(shè)置在所述相機與所述輸送裝置之間。
3.如權(quán)利要求2所述的一種用于高精度硅片的分選機檢測機構(gòu),其特征在于:所述補光燈為紅外燈。
4.如權(quán)利要求3所述的一種用于高精度硅片的分選機檢測機構(gòu),其特征在于:所述補光燈為具有中空結(jié)構(gòu)的框型,所述中空結(jié)構(gòu)的內(nèi)徑大于所述硅片外徑。
5.如權(quán)利要求4所述的一種用于高精度硅片的分選機檢測機構(gòu),其特征在于:所述補光燈光線與所述硅片具有45°夾角。
6.如權(quán)利要求1所述的一種用于高精度硅片的分選機檢測機構(gòu),其特征在于:所述輸送裝置包括主動驅(qū)動件和被動驅(qū)動件,所述主動驅(qū)動件通過傳動帶與所述被動驅(qū)動件連接,所述主動驅(qū)動件與電機輸出端連接。
7.如權(quán)利要求1所述的一種用于高精度硅片的分選機檢測機構(gòu),其特征在于:所述支架頂部設(shè)置殼體,所述相機設(shè)置在所述殼體內(nèi)。
8.如權(quán)利要求7所述的一種用于高精度硅片的分選機檢測機構(gòu),其特征在于:所述支架包括四根平行設(shè)置的豎桿,所述豎桿設(shè)置在所述殼體遠端的四角。
9.如權(quán)利要求8所述的一種用于高精度硅片的分選機檢測機構(gòu),其特征在于:相鄰所述豎桿間設(shè)有滑軌,所述背光燈可滑動的設(shè)置在所述滑軌上。
10.如權(quán)利要求1所述的一種用于高精度硅片的分選機檢測機構(gòu),其特征在于:所述用于高精度硅片的分選機檢測機構(gòu)還包括處理器和顯示器,所述處理器具有一部分與所述相機連接,所述處理器具有另一部分與所述顯示器連接。
說明書: 一種用于高精度硅片的分選機檢測機構(gòu)技術(shù)領(lǐng)域[0001] 本實用新型涉及硅片檢測技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種用于高精度硅片的分選機檢測機構(gòu)。
背景技術(shù)[0002] 硅片是
光伏產(chǎn)業(yè)重要材料之一,作為
太陽能電池片的載體,硅片的質(zhì)量的好壞決定了太陽能
電池片轉(zhuǎn)換效率的高低。因此,在高精度硅片分選機中,檢測硅片上的隱裂等缺
陷是重要環(huán)節(jié)。
[0003] 文獻號為CN215812463U的中國實用新型專利公開了一種硅片檢測裝置,包括傳送單元、采集件、紅外光源和調(diào)節(jié)組件。該技術(shù)方案通過采集件與紅外光源之間的相對角度的
調(diào)節(jié)范圍,提高了成像清晰度,但是成像后硅片邊緣發(fā)黑且表面亮度不均勻,影響對硅片隱
裂的判斷。
實用新型內(nèi)容
[0004] 針對上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點,本實用新型的目的是提供裝置,以解決現(xiàn)有技術(shù)中的一個或多個問題。
[0005] 為實現(xiàn)上述目的,本實用新型的技術(shù)方案如下:[0006] 一種用于高精度硅片的分選機檢測機構(gòu),包括支架以及設(shè)置在所述支架上的成像裝置和輸送裝置,所述成像裝置包括相機、背光燈,所述相機設(shè)置在所述支架近端,所述背
光燈設(shè)置在所述支架遠端,所述輸送裝置設(shè)置在相機與背光燈之間,所述輸送裝置用于輸
送硅片,所述相機對所述硅片進行攝像。
[0007] 進一步的,所述成像裝置還包括補光燈,所述補光燈設(shè)置在所述相機與所述輸送裝置之間。
[0008] 進一步的,所述補光燈為紅外燈。[0009] 進一步的,所述補光燈為具有中空結(jié)構(gòu)的框型,所述中空結(jié)構(gòu)的內(nèi)徑大于所述硅片外徑。
[0010] 進一步的,所述補光燈光線與硅片具有45°夾角。[0011] 進一步的,所述輸送裝置包括主動驅(qū)動件和被動驅(qū)動件,所述主動驅(qū)動件通過傳動帶與所述被動驅(qū)動件連接,所述主動驅(qū)動件與電機輸出端連接。
[0012] 進一步的,所述主動驅(qū)動件包括至少兩個主動輪,所述主動輪之間通過轉(zhuǎn)軸連接;所述被動驅(qū)動件包括至少兩個被動輪,所述被動輪之間通過轉(zhuǎn)軸連接。
[0013] 進一步的,所述支架頂部設(shè)置殼體,所述相機設(shè)置在所述殼體內(nèi)。[0014] 進一步的,所述支架包括四根平行設(shè)置的豎桿,所述豎桿設(shè)置在殼體遠端的四角。[0015] 進一步的,相鄰所述豎桿間設(shè)有滑軌,所述背光燈可滑動的設(shè)置在所述滑軌上。[0016] 進一步的,所述用于高精度硅片的分選機檢測機構(gòu)還包括處理器和顯示器,所述處理器具有一部分與所述相機連接,所述處理器具有另一部分與所述顯示器連接。
[0017] 與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實用新型的有益技術(shù)效果如下:[0018] (一)本實用新型采用LED背光作為硅片攝像時的背景,成像為黑底白邊,成像清晰且表面亮度均勻。
[0019] (二)進一步的,背光燈可滑動的設(shè)置在所述滑軌上,能夠根據(jù)硅片尺寸大小調(diào)節(jié)背光燈的位置,保證拍照時硅片背景亮度。
[0020] (三)進一步的,所述補光燈光線與硅片具有45°夾角,當硅片經(jīng)過中空結(jié)構(gòu)時,補光燈的光線剛好照在硅片上,使成像更清晰。
[0021] (四)進一步的,所述補光燈為具有中空結(jié)構(gòu)的框型,所述中空結(jié)構(gòu)的內(nèi)徑大于所述硅片外徑,中空結(jié)構(gòu)用于限制相機拍照時成像的大小。
附圖說明[0022] 圖1示出了本實用新型實施例一提供的一種用于高精度硅片的分選機檢測機構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0023] 圖2示出了本實用新型實施例一提供的一種用于高精度硅片的分選機檢測機構(gòu)的軸測圖。
[0024] 圖3示出了本實用新型實施例一提供的一種用于高精度硅片的分選機檢測機構(gòu)的連接關(guān)系圖。
[0025] 圖4示出了本實用新型實施例一提供的一種用于高精度硅片的分選機檢測機構(gòu)中補光燈的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0026] 圖5示出了現(xiàn)有技術(shù)中硅片檢測效果圖。[0027] 圖6示出了本實用新型實施例一提供的一種用于高精度硅片的分選機檢測機構(gòu)的檢測效果圖。
[0028] 附圖中標記:[0029] 1、成像裝置;11、相機;12、殼體;13、補光燈;131、中空結(jié)構(gòu);14、背光燈;2、輸送裝置;21、傳送帶;22、主動輪;23、被動輪;24、轉(zhuǎn)軸;31、豎桿;32、滑軌;4、處理器;5、顯示器;6、硅片。
具體實施方式[0030] 為了使本實用新型的目的、特征和優(yōu)點能夠更加明顯易懂,請參閱附圖。須知,本說明書所附圖式所繪示的結(jié)構(gòu)、比例、大小等,均僅用以配合說明書所揭示的內(nèi)容,以供熟
悉此技術(shù)的人士了解與閱讀,并非用以限定本實用新型實施的限定條件,故不具技術(shù)上的
實質(zhì)意義,任何結(jié)構(gòu)的修飾、比例關(guān)系的改變或大小的調(diào)整,在不影響本實用新型所能產(chǎn)生
的功效及所能達成的目的下,均應(yīng)仍落在本實用新型所揭示的技術(shù)內(nèi)容能涵蓋的范圍內(nèi)。
[0031] 在本實用新型的描述中,限定術(shù)語“中心”、“縱向”、“橫向”、“長度”、“寬度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“頂”、“底”、“內(nèi)”、“外”、“軸向”、“徑向”、“周向”等指示的方位或位置關(guān)系為基于附圖所示的方位或位置關(guān)系,僅是為了便于描述本實用新型和簡化描述,而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構(gòu)
造和操作,因此不能理解為對本實用新型的限制。
[0032] 為了更加清楚地描述上述一種用于高精度硅片的分選機檢測機構(gòu),本實用新型限定術(shù)語“遠端”和“近端”,上述術(shù)語為醫(yī)療器械領(lǐng)域的專用術(shù)語,具體而言,“遠端”表示手術(shù)
過程中遠離操作者的一端,“近端”表示手術(shù)過程中靠近操作者的一端,以圖1為例,圖1中第
一彈簧單元的右側(cè)為近端,圖1中第一彈簧單元的左側(cè)為遠端。
[0033] 實施例一[0034] 請參考圖1和圖2,一種用于高精度硅片的分選機檢測機構(gòu),包括支架以及設(shè)置在所述支架上的成像裝置1和輸送裝置2,所述成像裝置1包括相機11、背光燈14,所述相機11
設(shè)置在所述支架近端,所述背光燈14設(shè)置在所述支架遠端,所述輸送裝置2設(shè)置在相機11與
背光燈14之間,所述輸送裝置2用于輸送硅片6,所述相機11對所述硅片6進行攝像。
[0035] 優(yōu)選的,在本實施例一所述一種用于高精度硅片的分選機檢測機構(gòu)中,所述相機11采用巴斯勒工業(yè)相機,具有高分辨率和高幀速的優(yōu)點。
[0036] 請繼續(xù)參考圖1和圖2,進一步的,所述支架頂部設(shè)置殼體12,所述相機11設(shè)置在所述殼體12內(nèi)。
[0037] 請繼續(xù)參考圖1和圖2,進一步的,所述支架包括四根平行設(shè)置的豎桿31,所述豎桿31設(shè)置在殼體12遠端的四角。
[0038] 請繼續(xù)參考圖1和圖2,進一步的,相鄰所述豎桿31間設(shè)有滑軌32,所述背光燈14可滑動的設(shè)置在所述滑軌32上,能夠根據(jù)硅片6尺寸大小調(diào)節(jié)背光燈14的位置,保證拍照時硅
片6背景亮度。
[0039] 請參考圖1和圖2,進一步的,所述成像裝置1還包括補光燈13,所述補光燈13設(shè)置在所述相機11與所述輸送裝置2之間,所述補光燈13長度方向兩側(cè)通過螺釘(圖中未示出)
固定在豎桿31上。
[0040] 優(yōu)選的,在本實施例一所述一種用于高精度硅片的分選機檢測機構(gòu)中,所述補光燈13為紅外燈,更具體的,采用紅外發(fā)光二極管,采用紅外燈補光功耗低、光線均勻,能夠抑
制逆光、眩光,補光性能好。
[0041] 請參考圖2和圖4,進一步的,所述補光燈13為具有中空結(jié)構(gòu)131的框型,所述中空結(jié)構(gòu)131的內(nèi)徑大于所述硅片6外徑,中空結(jié)構(gòu)131用于限制相機11拍照時成像的大小。
[0042] 請參考圖2,進一步的,所述補光燈13光線與硅片6具有45°夾角,當硅片6經(jīng)過中空結(jié)構(gòu)131時,補光燈13的光線剛好照在硅片6上。
[0043] 請參考圖1和圖2,進一步的,所述輸送裝置2包括主動驅(qū)動件和被動驅(qū)動件,所述主動驅(qū)動件通過傳動帶與所述被動驅(qū)動件連接,所述主動驅(qū)動件與電機輸出端(圖中未示
出)連接。
[0044] 具體的,請繼續(xù)參考圖1和圖2,所述主動驅(qū)動件包括至少兩個主動輪22,所述主動輪22之間通過轉(zhuǎn)軸24連接;所述被動驅(qū)動件包括至少兩個被動輪23,所述被動輪23之間通
過轉(zhuǎn)軸24連接。
[0045] 請參考圖3,進一步的,所述用于高精度硅片6的分選機檢測機構(gòu)還包括處理器4和顯示器5,所述處理器4具有ADC接口與所述相機11連接,所述處理器4具有SPI接口與所述顯
示器5連接。所述處理器4用于接收相機11拍攝得到的圖像并發(fā)送至顯示器5顯示,該功能屬
于處理器4的基本功能,是現(xiàn)有技術(shù)。
[0046] 本實用新型的具體工作流程如下:[0047] 請參考圖1至圖6,打開背光燈14和補光燈13,調(diào)整背光燈14位置保證硅片6拍照時背景亮度,硅片6通過傳送帶21傳至檢測機構(gòu),硅片6經(jīng)過補光燈13中空結(jié)構(gòu)131的下方時,
相機11對硅片6進行照相,處理器4接收成像信息發(fā)送至顯示器5顯示,拍照完后硅片6通過
傳送帶21送入分選機。
[0048] 請參考圖5,沒有采用背光燈14和補光燈13時,硅片6成像為白底黑邊,放大后可以明顯看出硅片6邊緣發(fā)黑,表面亮度不均勻,影響硅片6質(zhì)量的判斷。
[0049] 請參考圖6,采用背光燈14和補光燈13時,硅片6成像為黑底白邊,成像清晰且表面亮度均勻。
[0050] 以上所述實施例的各技術(shù)特征可以進行任意的組合,為使描述簡潔,未對上述實施例中的各個技術(shù)特征所有可能的組合都進行描述,然而,只要這些技術(shù)特征的組合不存
在矛盾,都應(yīng)當認為是本說明書記載的范圍。
[0051] 以上所述實施例僅表達了本實用新型的幾種實施方式,其描述較為具體和詳細,但并不能因此而理解為對實用新型專利范圍的限制。應(yīng)當指出的是,對于本領(lǐng)域的普通技
術(shù)人員來說,在不脫離本實用新型構(gòu)思的前提下,還可以做出若干變形和改進,這些都屬于
本實用新型的保護范圍。因此,本實用新型專利的保護范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準。
聲明:
“用于高精度硅片的分選機檢測機構(gòu)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)