本發(fā)明公開了一種基于地質(zhì)圖的地層界線逐點(diǎn)巖層產(chǎn)狀獲取方法及裝置,具體處理步驟包括:首先,讀取面狀地層圖層、已知產(chǎn)狀點(diǎn)數(shù)據(jù)和DEM數(shù)據(jù),根據(jù)包含關(guān)系匹配地層與產(chǎn)狀點(diǎn),并由DEM提取等高線;提取等高線數(shù)據(jù)和地層界線交點(diǎn),用三點(diǎn)法計(jì)算交點(diǎn)的產(chǎn)狀,并將各個(gè)交點(diǎn)產(chǎn)狀賦值到最鄰近邊界點(diǎn)上;然后,判斷各個(gè)相鄰地層間連續(xù)關(guān)系和接觸關(guān)系,并基于地層間的相互關(guān)系,將已知產(chǎn)狀信息賦值到相關(guān)邊界點(diǎn)上,每個(gè)地層基于產(chǎn)狀修正的邊界點(diǎn),重新線性插值計(jì)算邊界點(diǎn)的產(chǎn)狀;最后,每個(gè)地層基于所有非插值獲取產(chǎn)狀的邊界點(diǎn),重新線性插值計(jì)算邊界點(diǎn)產(chǎn)狀,并完成地質(zhì)圖地層邊界點(diǎn)產(chǎn)狀數(shù)據(jù)生成。本發(fā)明對(duì)計(jì)算數(shù)據(jù)的依賴較少,自動(dòng)化程度和計(jì)算精度較高。
聲明:
“基于地質(zhì)圖的地層界線逐點(diǎn)巖層產(chǎn)狀獲取方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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