本發(fā)明提供了一種深反射地震剖面隨機介質(zhì)參數(shù)確定方法、裝置和電子設(shè)備，涉及地質(zhì)勘探的技術(shù)領(lǐng)域，在獲取到深反射地震剖面數(shù)據(jù)之后，首先將其拆分成多個子地震剖面數(shù)據(jù)，然后基于現(xiàn)代譜分析方法確定目標子地震剖面數(shù)據(jù)的自相關(guān)函數(shù)，進而求解目標子地震剖面數(shù)據(jù)的隨機介質(zhì)參數(shù)，最后根據(jù)所有子地震剖面數(shù)據(jù)的隨機介質(zhì)參數(shù)確定深反射地震剖面數(shù)據(jù)的隨機介質(zhì)參數(shù)。本發(fā)明先將深反射地震剖面數(shù)據(jù)拆分成相對較短的數(shù)據(jù)，然后采用現(xiàn)代譜分析方法求解短數(shù)據(jù)的自相關(guān)函數(shù)，其計算誤差遠小于直接進行自相關(guān)函數(shù)計算的方法，進而使得求解得到的隨機介質(zhì)參數(shù)更精確，有效的緩解了現(xiàn)有技術(shù)中的深反射地震剖面隨機介質(zhì)參數(shù)確定方法存在的準確性差的技術(shù)問題。