本發(fā)明涉及礦選領域,公開了一種基于雙能X射線的圖像識別處理方法,包括:將礦石通過輸送裝置輸至雙能X射線掃描輻射區(qū)域,得到高能投影數(shù)據(jù)圖和低能投影數(shù)據(jù)圖圖;對高能投影數(shù)據(jù)圖和低能投影數(shù)據(jù)圖進行雙能分解,得到礦石分解系數(shù),利用最小二乘法對礦石分解系數(shù)進行擬合獲得極小值點,利用極小值點獲得極小值;將該基材料分解系數(shù)作為初值,計算被檢查物體的每個像素的等效原子序數(shù)和電子密度;根據(jù)每個像素的等效原子序數(shù)和電子密度,計算光電效應所對應的質量衰減系數(shù),利用光電效應所對應的質量衰減系數(shù);根據(jù)質量衰減系數(shù)計算得到、等效原子序數(shù)和電子密度得到礦石的分布圖,可以有效的進行礦選,礦選效果高,礦選效果佳。
聲明:
“基于雙能X射線的圖像識別處理方法及控制系統(tǒng)” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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