星云手機(jī)數(shù)碼鋰電池組成品測(cè)試系統(tǒng)BAT-NEPDQ-01BD-V016

概述

星云手機(jī)數(shù)碼鋰電池組成品測(cè)試系統(tǒng)(BAT-NEPDQ-01BD-V016)適用于手機(jī)數(shù)碼鋰電池生產(chǎn)線中成品/半成品基本特性的測(cè)試，是一款主要針對(duì)保護(hù)IC的基本特性測(cè)試而開(kāi)發(fā)的Pack綜合測(cè)試系統(tǒng)(支持I2C、SMBus、HDQ通訊協(xié)議)。

測(cè)試功能齊全，覆蓋多種需求：

開(kāi)路電壓測(cè)試、帶載電壓(等效直流阻抗測(cè)試)、動(dòng)態(tài)負(fù)載測(cè)試、電池內(nèi)阻測(cè)試、熱敏/ID電阻測(cè)試;

正常充電電壓測(cè)試(充電狀態(tài)下的PACK電壓判斷/電流判斷)

正常放電壓測(cè)試(放電狀態(tài)下的PACK電壓判斷/電流判斷)

電容測(cè)試、漏電流測(cè)試、IDR/THR和電容測(cè)試可控制通斷、充電過(guò)電流保護(hù)測(cè)試、放電過(guò)電流保護(hù)測(cè)試、短路保護(hù)功能測(cè)試

保護(hù)功能設(shè)置，提升測(cè)試安全：

輸出短路保護(hù)、檢測(cè)掉線保護(hù)、輸出過(guò)流保護(hù)、過(guò)溫度保護(hù)、采用大功耗MOS無(wú)觸點(diǎn)轉(zhuǎn)換對(duì)應(yīng)測(cè)試制式狀態(tài)(而非采用繼電器),提高測(cè)試儀的可靠性