本發(fā)明公開了一種電子元器件尺寸測試裝置,包括底板,所述底板上設(shè)置有自前至后依次布置的尺寸檢測機(jī)構(gòu)、渦流檢測機(jī)構(gòu)和分料機(jī)構(gòu),所述尺寸檢測機(jī)構(gòu)和渦流檢測機(jī)構(gòu)的上方設(shè)置有抓料機(jī)構(gòu),所述抓料機(jī)構(gòu)用以將產(chǎn)品抓送至尺寸檢測機(jī)構(gòu)中進(jìn)行尺寸檢測,并將尺寸檢測之后的產(chǎn)品抓送至渦流檢測機(jī)構(gòu)中進(jìn)行性能檢測,所述分料機(jī)構(gòu)用以將性能檢測之后的產(chǎn)品進(jìn)行分類收集。本發(fā)明一種電子元器件尺寸測試裝置具有減小尺寸測試誤差、提高工作效率、降低人工成本的優(yōu)點。
聲明:
“一種電子元器件尺寸測試裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)