本發(fā)明公開了一種基于譜學(xué)分析的外場作用下化學(xué)鍵物性參數(shù)測量方法,一方面通過將待測樣品置于持續(xù)作用的待考察外場中進行譜學(xué)測試得到待測樣品的聲子譜,再從中截取在待考察外場不同狀態(tài)下目標(biāo)化學(xué)鍵在目標(biāo)振動模態(tài)下譜峰處的振動頻率;另一方面,基于化學(xué)鍵振動頻率偏移量的計算公式以及化學(xué)鍵長度和能量在外場作用下的受激弛豫公式擬合出在待考察外場不同狀態(tài)下目標(biāo)化學(xué)鍵在目標(biāo)振動模態(tài)下的振動頻率與參考頻率、物性參數(shù)的擬合關(guān)系式,再將實測的不同狀態(tài)下目標(biāo)化學(xué)鍵在目標(biāo)振動模態(tài)下譜峰處的振動頻率代入擬合公式得到物性參數(shù)。通過該方法實現(xiàn)了一種系統(tǒng)式獲取不同類外場作用下或者多類外場協(xié)同作用下的系列物性參數(shù)。
聲明:
“基于譜學(xué)分析的外場作用下化學(xué)鍵物性參數(shù)測量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)