本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N熱
電化學(xué)氧化系統(tǒng)狀態(tài)檢測(cè)方法,在熱電化學(xué)氧化的過(guò)程中,包括步驟:S1,實(shí)時(shí)檢測(cè)工藝參數(shù)包括:電解液的溫度、pH值、和濃度,陶瓷膜厚度,絕緣電阻的阻值,以及電源脈沖的電流、頻率及占空比;S2,將步驟S1中實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)的工藝參數(shù)的檢測(cè)數(shù)據(jù),傳輸給操作臺(tái);S3,操作臺(tái)將檢測(cè)數(shù)據(jù)與數(shù)據(jù)庫(kù)數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì),若檢測(cè)數(shù)據(jù)超過(guò)設(shè)定的閾值,操作臺(tái)給出警示信息并發(fā)出調(diào)整指令,部分或者全部與影響工藝參數(shù)有關(guān)的設(shè)備,進(jìn)行反饋調(diào)節(jié)。
聲明:
“熱電化學(xué)氧化系統(tǒng)狀態(tài)檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)