本發(fā)明屬于分析化學中的元素形態(tài)分析技術(shù)領(lǐng)域,特別的是涉及基于介質(zhì)阻擋放電低溫原子化器的非色譜汞形態(tài)分析方法,利用還原劑將樣品中的無機汞還原為Hg0,而有機汞生成有機汞氫化物,在介質(zhì)阻擋放電原子化器不放電時,進行無機汞的測定得到無機汞的濃度;在介質(zhì)阻擋放電原子化器放電時,有機汞氫化物被原子化,進行總汞的測定,得到總汞的濃度;有機汞的濃度為總汞的濃度與無機汞的濃度之間的差值。本發(fā)明的有益效果在于:本方法測定簡單快速,一分鐘測定一個樣品,而且具有氣體消耗少(40-100mL?min-1),功耗低(≤20W)的優(yōu)點。
聲明:
“基于介質(zhì)阻擋放電低溫原子化器的非色譜汞形態(tài)分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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