本申請涉及用于對化學(xué)強化透明基材中的應(yīng)力進行表征的混合系統(tǒng)和方法?;旌蠝y量系統(tǒng)包括漸逝棱鏡耦合光譜(EPCS)子系統(tǒng)和光散射偏振(LSP)子系統(tǒng)。EPCS子系統(tǒng)包括通過EPCS耦合棱鏡光學(xué)耦合到EPCS檢測器系統(tǒng)的EPCS光源。LSP子系統(tǒng)包括光學(xué)耦合到光學(xué)補償器的LSP光源,所述光學(xué)補償器進而通過LSP耦合棱鏡光學(xué)耦合到LSP檢測器系統(tǒng)。支撐結(jié)構(gòu)支撐了EPCS和LSP耦合棱鏡以限定耦合棱鏡組合件,其在測量位置支撐了這兩個棱鏡。結(jié)合使用了EPCS和LSP子系統(tǒng)的應(yīng)力測量來對透明化學(xué)強化基材的應(yīng)力性質(zhì)進行完整表征。還揭示了進行EPCS和LSP測量以改善測量準(zhǔn)確度的方法。
聲明:
“用于對化學(xué)強化透明基材中的應(yīng)力進行表征的混合系統(tǒng)和方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)