本發(fā)明提出一種基于X射線粉末衍射技術(shù)的β?HMX晶型純度檢測方法,采用X射線粉末衍射技術(shù)結(jié)合化學(xué)計量學(xué)偏最小二乘法建立β?HMX晶型純度定量校正模型及相應(yīng)的晶型純度測試方法。本發(fā)明基于多元數(shù)據(jù)分析方法,可在交叉、重疊的光譜中提取有效信息,適用于無獨立特征譜峰的晶型定量分析;能在10min~15min時間內(nèi)準(zhǔn)確測定β?HMX晶型純度,且樣品用量小于50mg,檢測過程無需復(fù)雜制樣,安全、快捷;能夠解決合成樣品小試階段、產(chǎn)品事故究因分析等環(huán)節(jié)中微量樣品晶型純度難以檢測的問題,為β?HMX產(chǎn)品質(zhì)量控制、生產(chǎn)工藝和長儲過程的晶型穩(wěn)定性研究提供可靠、高效的檢測依據(jù)。
聲明:
“基于X射線粉末衍射技術(shù)的β-HMX晶型純度檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)