本發(fā)明公開了一種光譜測量系統(tǒng)及多外差拍頻信號探測及數(shù)據(jù)處理方法,屬于紅外光譜分析領(lǐng)域,光譜測量系統(tǒng)包括光源梳、本振梳、樣品室、反射鏡、紅外探測器以及數(shù)據(jù)采集卡和計(jì)算機(jī);本發(fā)明方法可實(shí)現(xiàn)基于雙光頻率梳多外差拍頻方法的紅外光譜高速測量系統(tǒng),產(chǎn)生的多外差拍頻光學(xué)信號的高速、高靈敏度探測即數(shù)據(jù)采集,并得到待測樣品的光譜信息,滿足化學(xué)、生物、集成
芯片材料、特種功能
新材料等領(lǐng)域的瞬變態(tài)過程及瞬變產(chǎn)物等領(lǐng)域的研究需求。
聲明:
“光譜測量系統(tǒng)及多外差拍頻信號探測及數(shù)據(jù)處理方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)