本發(fā)明涉及通過計算機控制光源發(fā)射來使光測量數(shù)字化的方法和裝置。本發(fā)明使用光敏器件(LSD)(例如包括CMOS或CCD圖像
芯片的相機系統(tǒng)),通過以數(shù)字化方式控制光源輸出以進行精密測量。從LSD獲得恒定的輸出值,從而防止發(fā)生LSD輸出的任何非線性和范圍限制。所述測量方法和系統(tǒng)可用于診斷目的的化學(xué)測試和分析物。所述方法可用來測量反射、透射、熒光和濁度。
聲明:
“通過光源發(fā)射的計算機控制來使光測量數(shù)字化的方法和裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)