表面等離子體諧振測(cè)試儀,包括控制系統(tǒng)、光學(xué)系統(tǒng)、機(jī)械運(yùn)動(dòng)結(jié)構(gòu)、角度信號(hào)處理電路、光信號(hào)處理電路,所說的機(jī)械運(yùn)動(dòng)結(jié)構(gòu)包括光學(xué)平臺(tái)2,安裝在光學(xué)平臺(tái)上的連桿組3,螺桿6一端接有滑塊4,另一端與電機(jī)7連接,在滑塊4下有一導(dǎo)軌5,拉桿9一端連接滑塊4,另一端連接連桿組3,角位移傳感器8安裝在螺桿6上。本發(fā)明不僅可應(yīng)用于研究金屬薄膜光學(xué)特性和LB膜的分子結(jié)構(gòu)、光學(xué)常數(shù)等,還可用作傳感器對(duì)生物、化學(xué)量的測(cè)量。
聲明:
“表面等離子體諧振測(cè)試儀” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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