本發(fā)明涉及并行列掃描光譜型表面等離子體共振成像方法及裝置,其方法是:將寬帶光源發(fā)出的光束變?yōu)橐粭l細(xì)線形光束,使該細(xì)線形光束照射在SPR發(fā)生裝置上,該裝置出射光束經(jīng)色散后,由二維光電探測(cè)裝置探測(cè),獲得被測(cè)平面被照明的一條線形區(qū)域內(nèi)的SPR光譜信息;平移該裝置,用所述細(xì)線型光束掃描整個(gè)被測(cè)量平面,獲得整個(gè)被測(cè)平面的全部列的SPR光譜信息;由計(jì)算機(jī)對(duì)全部列SPR光譜圖像信息進(jìn)行運(yùn)算、處理,得到該裝置中整個(gè)被測(cè)平面的折射率信息,生成一幅二維圖片。本方法可得到直觀的二維折射率分布信息,具有很高的折射率分辨率;由于采用列掃描技術(shù),具有大信息吞吐量的特點(diǎn),廣泛用于生物、化學(xué)領(lǐng)域,尤其適合各種生物
芯片的檢測(cè)。
聲明:
“并行列掃描光譜型表面等離子體共振成像方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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