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用于增強(qiáng)的納米-光譜掃描的方法和裝置

1064   編輯:管理員   來源:中冶有色技術(shù)網(wǎng)  
2023-03-19 07:33:29
本發(fā)明揭示了一種用于識別樣品(82)中化學(xué)基團(tuán)的裝置和方法。裝置(35)包括:具備支撐樣品(82)的等離子體振子共振表面的基質(zhì)(80)、光束源(10)、和包括尖端區(qū)域和由尖端區(qū)域上的一個或更多個等離子體振子顆粒(PRP)組成的納米透鏡的透鏡組件(60)。將所述PRP安排在納米透鏡(62)和基質(zhì)表面(80)上的對抗探測區(qū)之間的空間內(nèi),當(dāng)納米透鏡(62)和基質(zhì)(80)間的間隙為30nm或更小時產(chǎn)生近場電磁間隙模式。所述裝置中的聚焦機(jī)構(gòu)用于移動所述透鏡組件(60)朝向或離開所述基質(zhì)表面(80),而所述間隙小于30nm,從而產(chǎn)生用于增強(qiáng)拉曼分光信號的電磁間隙模式,該信號由檢測區(qū)域的樣品(82)產(chǎn)生。
聲明:
“用于增強(qiáng)的納米-光譜掃描的方法和裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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