一種微納米織構(gòu)表面的電控摩擦方法及其裝置,屬于微納摩擦測(cè)試方法及裝置。該摩擦方法為前期準(zhǔn)備、恒壓力加載、電控信號(hào)輸入和摩擦力檢測(cè);裝置為:探針的導(dǎo)電球形針尖與探針懸臂的一端粘結(jié)在一起,探針的另一端夾持在探針架上,探針架可以隨著導(dǎo)軌上下移動(dòng),同時(shí)探針架、微安表、
電化學(xué)工作站、電阻、樣品依次相連,樣品帶有織構(gòu)的一面與探針相接觸;電化學(xué)工作站通過(guò)數(shù)據(jù)線與計(jì)算機(jī)系統(tǒng)相連接,實(shí)現(xiàn)了摩擦力測(cè)試過(guò)程中電壓信號(hào)的輸入。優(yōu)點(diǎn):測(cè)試方便、精度高,采用微納米織構(gòu)電控摩擦測(cè)試裝置對(duì)微納米織構(gòu)表面進(jìn)行摩擦性能測(cè)試操作簡(jiǎn)單、易于控制;應(yīng)用范圍廣,對(duì)微米、亞微米、納米等的織構(gòu)表面進(jìn)行摩擦性能的精密測(cè)試,對(duì)摩擦過(guò)程進(jìn)行調(diào)控。
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“微納米織構(gòu)表面的電控摩擦方法及其裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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