本發(fā)明公開了一種用于放射性樣品直接中子照相無損檢測的檢測裝置,包括:中子源、樣品臺、中子光路傳輸系統(tǒng)和中子探測系統(tǒng)。所述中子源、所述樣品臺、所述中子光路傳輸系統(tǒng)和所述中子探測系統(tǒng)沿著第一方向依次排布設(shè)置。通過在樣品臺和中子探測系統(tǒng)之間設(shè)置中子光路傳輸系統(tǒng),并可根據(jù)檢測樣品的性質(zhì)等來設(shè)置中子光路傳輸系統(tǒng)的長度,從而拉長了檢測樣品和中子探測系統(tǒng)之間的距離,可以極大地降低檢測樣品的放射性對中子成像探測系統(tǒng)的影響,幾乎不會影響中子探測系統(tǒng)的檢測成像。如此,本發(fā)明的用于放射性樣品直接中子照相無損檢測的檢測裝置,可以利用直接中子成像方法針對放射性樣品進(jìn)行中子照相無損檢測。
聲明:
“用于放射性樣品直接中子照相無損檢測的檢測裝置及檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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