本發(fā)明公開了一種基于透明導(dǎo)電薄膜電極材料的非接觸式漆膜厚度無損檢測系統(tǒng)及檢測方法,屬于漆膜厚度測量領(lǐng)域。該檢測系統(tǒng)通過共聚焦探頭發(fā)射的縱向光路,和電渦流探頭發(fā)射的橫向電磁波的路徑交匯處,設(shè)置透明導(dǎo)電薄膜電極材料;利用透明電極的導(dǎo)電性和透光性,使共聚焦探頭與電渦流探頭同時測量待測漆膜中同一待測區(qū)域的上、下表面,實現(xiàn)非接觸式檢測。利用該檢測系統(tǒng)的檢測方法,通過對電渦流探頭實施標(biāo)定操作,消除非接觸式測量過程中檢測距離對電渦流探頭結(jié)果的影響,并通過電渦流探頭的結(jié)果校準(zhǔn),實現(xiàn)非接觸式測得的待測漆膜厚度。本發(fā)明實現(xiàn)了漆膜厚度的非接觸式漆膜厚度無損檢測,具有廣闊的應(yīng)用前景。
聲明:
“基于透明導(dǎo)電薄膜電極材料的非接觸式漆膜厚度無損檢測系統(tǒng)及檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)