本發(fā)明涉及一種用于內(nèi)存卡的無(wú)損檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法,該無(wú)損檢測(cè)裝置包括檢測(cè)臺(tái);檢測(cè)臺(tái)設(shè)置有檢測(cè)工位;檢測(cè)工位設(shè)置有用于與內(nèi)存卡的金手指電連接的觸點(diǎn);檢測(cè)臺(tái)還設(shè)置有用于防止內(nèi)存卡沿觸點(diǎn)前后竄動(dòng)的限位組件,以及壓持內(nèi)存卡的壓持組件;與以往采取將內(nèi)存卡插入進(jìn)行檢測(cè)的方式相比,本裝置檢測(cè)操作簡(jiǎn)單且對(duì)內(nèi)存卡的金手指不會(huì)造成損傷,有利于提高客戶滿意度。
聲明:
“用于內(nèi)存卡的無(wú)損檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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