本發(fā)明涉及可能有裂紋的表面狀態(tài)的無(wú)損檢測(cè)方法,該方法基于對(duì)涂在表面上和裂紋中的染料在入射激勵(lì)光束的作用下發(fā)出的光波的觀測(cè),所述入射激勵(lì)光束的波長(zhǎng)適于所述染料。本發(fā)明的特征在于,利用染料隨厚度不同而發(fā)出的直線偏振光波相對(duì)入射偏振光波的旋轉(zhuǎn),來(lái)從觀察結(jié)果中消掉表面殘留染料導(dǎo)致的光斑。在附圖中,標(biāo)號(hào)(1)是一個(gè)激光器,標(biāo)號(hào)(2)是一個(gè)觀察攝像機(jī),標(biāo)號(hào)(3)是一個(gè)偏振光檢偏器。本發(fā)明應(yīng)用于染料滲透探測(cè)和磁粉探測(cè)。
聲明:
“使用染料進(jìn)行表面無(wú)損檢測(cè)的方法和裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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