本發(fā)明公開的一種對納米陶瓷表面自動檢測并能無損分類的設(shè)備,包括底座,所述底座上端左側(cè)轉(zhuǎn)動連接有螺桿,所述螺桿外圓面滑動設(shè)有滑塊,所述滑塊右端面設(shè)有能左右滑動的
檢測儀桿,所述檢測儀桿右端面固定設(shè)有檢測儀,所述底座內(nèi)右側(cè)上端面轉(zhuǎn)動設(shè)有轉(zhuǎn)板,所述轉(zhuǎn)板上端面固定設(shè)有納米陶瓷,所述檢測儀與所述納米陶瓷外圓面相接觸,本發(fā)明通過先檢測后標(biāo)記再分類的方式,先利用檢測儀上下滑動時對納米陶瓷表面進(jìn)行全面檢測,再通過UV指示劑對納米層有缺陷的陶瓷進(jìn)行標(biāo)記的同時對其進(jìn)行分類,提高了檢測效率的同時節(jié)省了人力成本,且被標(biāo)記的陶瓷表面完好,不影響后續(xù)的修復(fù)工作及使用。
聲明:
“對納米陶瓷表面自動檢測并能無損分類的設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)