本發(fā)明公開了一種基于時(shí)序熱圖加權(quán)疊加的紅外無損檢測(cè)方法。首先,使用紅外熱像儀實(shí)時(shí)采集加熱試件降溫過程時(shí)序熱圖,并對(duì)采集的時(shí)序熱圖進(jìn)行灰度化,獲得時(shí)序灰度圖;其次,以時(shí)序灰度圖中缺陷區(qū)域和正常區(qū)域灰度差值的加權(quán)和為目標(biāo)函數(shù),采用遺傳算法優(yōu)化加權(quán)系數(shù),使目標(biāo)函數(shù)值最大;最后,基于該加權(quán)系數(shù)對(duì)時(shí)序灰度圖進(jìn)行加權(quán)疊加,獲得突顯缺陷特征信息的疊加圖用于紅外無損檢測(cè)。
聲明:
“基于時(shí)序熱圖加權(quán)疊加的紅外無損檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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