本發(fā)明公開了一種基于旁孔繞射波分析的基樁質(zhì)量無損檢測方法,屬于地基基礎(chǔ)試驗(yàn)檢測領(lǐng)域。本發(fā)明是利用地震波傳播過程中的繞射現(xiàn)象來分析基樁的缺陷位置和樁底位置。地震波傳播到樁身缺陷和樁底等間斷點(diǎn),就會像物理光學(xué)中光線通過一個小孔發(fā)生衍射現(xiàn)象一樣,這些間斷點(diǎn)都可看成是一個新震源,由此新震源產(chǎn)生的繞射波向周圍土體傳播。在基樁旁成孔,利用工程地震儀沿測試孔深度方向接收從樁身缺陷和樁底等間斷點(diǎn)傳播過來的繞射波。將接收到的繞射波信號生成時間?深度波列圖。在波列圖上,上行繞射波與下行繞射波的信號交匯點(diǎn)對應(yīng)深度為樁身缺陷或樁底等間斷點(diǎn)的位置深度。繞射波分析方法不但可以檢測一般狀態(tài)下的基樁質(zhì)量,還可以檢測既有建筑物下基樁質(zhì)量和長樁長基樁質(zhì)量等傳統(tǒng)檢測方法難以解決的問題。
聲明:
“基于旁孔繞射波分析的基樁質(zhì)量無損檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)