本發(fā)明一種同時射線檢測不同厚度材料透照參數(shù)確定方法,屬于航天、航空、兵器、船舶、特種設(shè)備等的無損檢測技術(shù)領(lǐng)域;所要解決的技術(shù)問題是提供一種同時射線檢測不同厚度材料透照參數(shù)的確定方法,以便能夠?qū)崿F(xiàn)不同厚度材料同時射線檢測作業(yè),優(yōu)化檢測參數(shù),保證結(jié)果穩(wěn)定;通過不同厚度材料基準(zhǔn)透照參數(shù)選取、基準(zhǔn)參數(shù)調(diào)整、計算實際透照參數(shù)、確定布照焦距和透照時間等方法,解決了定向X射線檢測透照參數(shù)適用性差、逐件流水作業(yè)等問題,實現(xiàn)了同時射線檢測不同厚度材料,提高檢測效率和結(jié)果穩(wěn)定性。
聲明:
“同時射線檢測不同厚度材料透照參數(shù)確定方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)