本發(fā)明涉及利用暗場顯微鏡同時進行指紋識別與分析物檢測的方法,包括如下步驟:利用納米等離子體激元材料和核酸適體制備納米等離子體激元探針;處理基底并利用該基底獲取潛指紋;將所述納米等離子體激元探針滴加于已獲取潛指紋的基底上,使得所述潛指紋與所述納米等離子體激元探針結(jié)合;利用暗場顯微鏡進行檢測。本發(fā)明提供的指紋分析方法不僅能夠?qū)撝讣y進行成像,而且能夠同時檢測指紋中所攜帶的化學分析物。結(jié)果表明,本發(fā)明提供的是一種簡單快速的方法,可以對指紋樣品進行直接的無損分析。
聲明:
“利用暗場顯微鏡同時進行指紋識別與分析物檢測的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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