本發(fā)明涉及一種電子產(chǎn)品的元器件加速老化檢驗方法,包括以下幾個步驟:準備待測元器件、加水全浸沒、置放于高溫環(huán)境、風干晾干、第一次檢測和第二次檢測,在第一次檢測中:目測風干晾干后的待測元器件表面是否出現(xiàn)損傷;有損傷待測元器件,則被認為檢驗不合格,該種待測元器件檢驗終止;無損傷待測元器件,則繼續(xù)進行后續(xù)檢驗步驟;在第二次檢測中,將第一次檢測合格的待測元器件,進行焊接組裝形成電表;對電表進行電表參數(shù)性能檢驗,判斷是否符合標準;其將待測元器件依次加水全浸沒、置放高溫環(huán)境和風干晾干,篩選出無損傷待測元器件后焊接組裝進行電表參數(shù)性能檢驗,檢驗成本較低,提高檢測便利性,提高檢測效率,有效杜絕電子產(chǎn)品的缺陷。
聲明:
“電子產(chǎn)品的元器件加速老化檢驗方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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