本發(fā)明涉及一種稻米參數(shù)自動測量裝置及方法,本裝置由預(yù)設(shè)的計算機控制,采用單株脫粒儀將稻穗脫粒,谷粒由單株脫粒儀通過直槽式接口落到皮帶上,由運轉(zhuǎn)的皮帶分離谷粒;由X-RAY成像系統(tǒng)拍攝X射線透射圖,由計算機將所得圖像進行處理,得到稻米的各項參數(shù)。本發(fā)明利用X射線成像的方法,用數(shù)字圖像處理技術(shù)處理拍攝到的圖像,得到稻米的各項參數(shù),無需對脫粒后的谷粒進行去殼處理,且將脫粒、參數(shù)提取集成到一個系統(tǒng)中,具有安全無損、測量結(jié)果準(zhǔn)確可靠,操作簡單等優(yōu)點。
聲明:
“稻米參數(shù)自動測量裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)