本發(fā)明涉及一種直接測定樣品中痕量鋁、硅、磷、硫、氯元素含量的分析裝置及方法,該裝置包括X射線熒光分析儀單元(200)、充氣單元(100)、樣品杯(300)以及控制單元;X射線熒光分析儀單元(200)包括能夠進行氣體填充的樣品測試腔(203);充氣單元(100)能夠可控制地向樣品測試腔(203)內(nèi)進行充氣、排氣;控制單元,對該分析裝置進行控制,并將采集到的數(shù)據(jù)進行積分、統(tǒng)計、繪制工作曲線、標定等處理,一次性得到被測樣品中鋁、硅、磷、硫、氯每個元素的含量。本發(fā)明的優(yōu)點在于樣品無需前處理,適用于固體和液體樣品,具有無損、直接、快速、靈敏度高、使用成本低、便于現(xiàn)場測量等特點。
聲明:
“直接測定樣品中痕量鋁、硅、磷、硫、氯含量的分析裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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