本發(fā)明公開了一種植物莖稈測量方法,包括:S1對待測量植物樣品進行圖像采集;S2根據(jù)采集的圖像獲取待測量植物樣品的原位圖像;S3對所述原位圖像進行處理獲得圖像數(shù)據(jù),根據(jù)所述圖像數(shù)據(jù)計算出待測量植物樣品莖稈的表型特征參數(shù)。本發(fā)明通過獲取植物莖桿的原位圖像,對原位圖像進行處理和分析得出植物莖桿的表型特征參數(shù),能夠完全科學(xué)無損的獲取植物莖桿的原位圖像,有效的避免莖稈取樣過程中樣品失水萎蔫,造成莖稈的變形等現(xiàn)象,保證測量對植物莖稈不會造成折斷等問題,影響植株莖稈的生長和發(fā)育。
聲明:
“植物莖稈測量方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)